[发明专利]一种非易失性存储器的数据读取装置及方法在审

专利信息
申请号: 201610574374.3 申请日: 2016-07-19
公开(公告)号: CN106024062A 公开(公告)日: 2016-10-12
发明(设计)人: 薛子恒;刘奎伟;潘荣华 申请(专利权)人: 北京兆易创新科技股份有限公司
主分类号: G11C16/26 分类号: G11C16/26;G11C16/06;G11C16/34
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆;胡彬
地址: 100083 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种非易失性存储器的数据读取装置及方法。该装置包括:读取比较器,用于根据接收到的读取请求,将存储单元的单元电压与读取参考电压进行比较,并输出读取结果;校验比较器,用于将存储单元的单元电压与校验参考电压进行比较,并输出校验结果;其中,所述校验参考电压大于所述读取参考电压;偏移地址记录单元,用于根据读取结果和校验结果,在确定单元电压低于设定门限值时,确定存储单元为偏移存储单元,则记录偏移存储单元的偏移单元地址;读取纠正单元,用于如果接收到的读取请求命中偏移单元地址时,确定对偏移存储单元的读取结果为设定值,并抑制读取比较器的输出。本发明可减少非易失性存储器读操作中的误读,提高可靠性。
搜索关键词: 一种 非易失性存储器 数据 读取 装置 方法
【主权项】:
一种非易失性存储器的数据读取装置,其特征在于,包括:读取比较器,所述读取比较器的输入端与读取参考电压和存储单元的输出端相连,用于根据接收到的读取请求,将所述存储单元的单元电压与读取参考电压进行比较,并输出读取结果;校验比较器,所述校验比较器的输入端与校验参考电压和存储单元的输出端相连,用于将所述存储单元的单元电压与校验参考电压进行比较,并输出校验结果;其中,所述校验参考电压大于所述读取参考电压;偏移地址记录单元,与所述读取比较器和所述校验比较器相连,用于根据读取结果和校验结果,在确定单元电压低于设定门限值时,确定所述存储单元为偏移存储单元,则记录所述偏移存储单元的偏移单元地址;读取纠正单元,与所述偏移地址记录单元相连,用于如果接收到的读取请求命中所述偏移单元地址时,确定对所述偏移存储单元的读取结果为设定值,并抑制所述读取比较器的输出。
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