[发明专利]一种纯铝显微晶粒大小及形态观察方法

摘要

本发明提供了一种纯铝显微晶粒大小及形态观察方法，包括制备样品、制备样品检验面、将检验面磨光、用无水乙醇进行检测面清洗、配制电解液、将检验面进行电解抛光、用乙醇溶液冲洗、利用扫描电镜观察试样等步骤，本发明利用扫描电镜二次电子成像原理，无需进行阳极化制模处理即可进行，操作步骤简单，而且对扫描电镜设备要求较低。

主权项

一种纯铝显微晶粒大小及形态观察方法，其特征在于，包括如下步骤：（1）制备样品：随机选取无表面缺陷的铝导线作为待测样品，样品数量为6个；样品尺寸：横截面直径3‑5mm，长度为5‑8mm；（2）制备样品检验面：将其中三个制备好的样品进行横切，获得三个横切检验面；将其余三个制备好的样品进行纵切，获得三个纵切检验面；（3）将六个检验面均用80目、180目、280目、400目、600目和800目砂纸逐次进行磨光，每次进行下一级磨光时将试样转90°；（4）磨光完毕后用无水乙醇进行表面清洗；（5）配制体积浓度为2‑4%的高氯酸乙醇溶液作为电解液；（6）将步骤（4）中清洗过的检验面进行电解抛光，阴极电极为铂电极，电解抛光工艺参数如下，起始电压：15‑25V，电流0.2‑0.4A，电解液温度：20‑40℃，电解时间：45s‑90s；（7）电解后的试样分别用乙醇溶液冲洗，然后在无尘条件下进行烘干；（8）利用扫描电镜观察试样，参数如下，工作电压：15‑20KV，工作距离：5‑10mm，工作电流：30‑50μA，放大倍数：1000‑3000倍。