[发明专利]层取向的优化有效
| 申请号： | 201610579465.6 | 申请日： | 2016-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN106443532B | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | D.格罗茨基;T.斯佩克纳 | 申请（专利权）人： | 西门子保健有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R33/54 | 分类号： | G01R33/54;A61B5/055;G01R33/561;G01R33/483 |
| 代理公司： | 11105 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 侯宇 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及层取向的优化，尤其涉及一种对于借助磁共振装置的检查用于优化层取向的方法、一种磁共振装置和一种计算机程序产品。相应地，方法包括以下步骤：提供磁共振装置的至少一个设备限制，其中对于一个或多个梯度轴中的至少一个梯度轴的至少一个设备限制包括最大梯度强度和/或最大梯度上升速率。此外，提供检查的至少一个测量参数值和提供原始的层取向。根据至少一个设备限制以及至少一个测量参数值以及原始的层取向确定旋转角度信息。根据旋转角度信息优化原始的层取向并且借助磁共振装置根据优化的层取向记录测量数据。 | ||
| 搜索关键词： | 取向 优化 | ||
【主权项】：
1.一种对于借助具有一个或多个梯度轴的磁共振装置的检查优化层取向的方法,包括以下步骤：/n-提供磁共振装置的至少一个设备限制，/n其中，一个或多个梯度轴中的至少一个梯度轴的至少一个设备限制包括最大梯度强度和/或最大梯度上升速率，/n-提供检查的至少一个测量参数值,/n-提供原始的层取向，/n-根据至少一个设备限制以及至少一个测量参数值以及原始的层取向确定旋转角度信息，/n-根据旋转角度信息优化原始的层取向，/n-借助磁共振装置根据优化的层取向记录测量数据。/n
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