[发明专利]多批次成败型试验下产品贮存期评估的Buehler方法有效

专利信息
申请号: 201610580679.5 申请日: 2016-07-21
公开(公告)号: CN106251044B 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 于丹;李赵辉;胡庆培 申请(专利权)人: 中国科学院数学与系统科学研究院
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 彭久云;夏贝贝
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明针对产品不同贮存年限下的成败型贮存寿命试验,建立了贮存可靠性及贮存期评估的样本空间排序方法。所提供的方法适用于贮存寿命服从指数分布、威布尔分布、对数正态分布情形。基于上述模型,利用多批次成败型实验信息确定产品可靠性评估结果。本发明能快速准确的利用不完全实验信息对目标产品进行可靠性评估。
搜索关键词: 批次 成败 试验 产品 贮存 评估 buehler 方法
【主权项】:
一种考虑多批次成败型产品的可靠性统计评估方法,包括:确定产品试验数据模型;利用产品的多批次成败型试验数据,针对不同的产品寿命数据模型,利用样本空间排序法对可靠性参数作出评估统计推断。
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