[发明专利]精准检测可见光空间相位的装置

摘要

本发明涉及一种精准检测可见光空间相位的装置，待测可见光光源经过反射镜和1/2波片后，经过抛物面镜聚焦，电离焦点附近的空气介质形成等离子体拉丝，在等离子体拉丝一侧相应的位置安放可调节狭缝和MCP探测器，电离过程中产生的部分电子可以从可调节狭缝的缝隙中逸出，MCP探测器放在可调节狭缝的缝隙之后，用来收集和探测逸出的电子，经过处理得到等离子体拉丝不同空间位置处的电场强度分布。当1/2波片的角度是0°时，MCP探测器探测到等离子体拉丝其中一侧的电场强度分布；当1/2波片旋转180°时，MCP探测器探测到等离子体拉丝另一侧的电场强度分布；将两侧的电场强度分布作差值求解，就能够得到缝隙对应处的可见光空间相位。

主权项

1.一种精准检测可见光空间相位的装置，包括待测可见光光源(1)、反射镜(2)、1/2波片(3)、电动旋转底座(4)、抛物面镜(5)、光收集盒(7)、可调节狭缝(8)、一维步进电机(9)、Microchannel Plate探测器(10)和计算机(13)，其特征在于：所述1/2波片(3)安装在电动旋转底座(4)上，可随电动旋转底座(4)旋转角度；可调节狭缝(8)固定在一维步进电机(9)上，可随一维步进电机(9)左右移动；所述电动旋转底座(4)通过连接线连接计算机(13)，用计算机(13)精确控制1/2波片(3)的旋转角度，计算机(13)通过连接线连接Microchannel Plate探测器(10)，用于Microchannel Plate探测器(10)的数据存储及空间相位图像处理；所述待测可见光光源(1)发出的光脉冲经过反射镜(2)，再经过 1/2 波片(3)达到抛物面镜(5)，经过抛物面镜(5)聚焦，使电离焦点附近的空气介质形成等离子体拉丝(6)，再由光收集盒(7)收集等离子体拉丝(6)后的发散光；在等离子体拉丝(6)一侧相应的位置安放可调节狭缝(8)和Microchannel Plate探测器(10)；电离过程中产生的部分电子从可调节狭缝(8)的缝隙中逸出，可调节狭缝(8)的缝隙用来限定电子从等离子体拉丝(6)周围逸出的范围，Microchannel Plate探测器(10)放在可调节狭缝(8)的缝隙之后，用来收集和探测逸出的电子，并经过处理得到等离子体拉丝(6)不同空间位置处的电场强度分布；当1/2波片(3)的角度是0°时，所述Microchannel Plate探测器(10)探测到等离子体拉丝(6) 的沿光束传播方向的轴向其中一侧的电场强度分布；当计算机(13)控制电动旋转底座(4)将1/2波片(3)旋转180°时，所述Microchannel Plate探测器(10)探测到等离子体拉丝(6) 沿光束传播方向的轴向另一侧的电场强度分布；将等离子体拉丝(6)两侧的电场强度分布作差值求解，得到可调节狭缝(8)缝隙对应处的可见光空间相位。