[发明专利]一种多测量模式的三维测量方法有效
| 申请号： | 201610584281.9 | 申请日： | 2016-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN106441200B | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 先临三维科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/20 | 分类号： | G01B21/20;G06F17/10 |
| 代理公司： | 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231 | 代理人： | 张宇娟 |
| 地址： | 311258 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及三维数字成像领域，具体涉及一种多测量模式的三维测量方法，包括如下步骤：S1、建立统一的数据结构模型，所述统一的数据结构模型用于对多种测量模式获得的测量数据进行统一表示；S2、在单个测量模式下，对测量得到的每一片点云使用所述统一的数据结构表达，并进行计算和预处理；S3、对不同测量模式获得的数据进行拼接，将任意位置的两片点云对齐到统一的坐标系；S4、对拼接后的数据进行混合全局优化，得到测量结果。本发明的多测量模式的三维测量方法，能够实现对多种测量模式下测量数据的实时融合和优化，实现高精度、高细节的三维测量，具有广泛的应用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 模式 三维 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种多测量模式的三维测量方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、基于隐函数建立统一的数据结构模型，所述统一的数据结构模型用于对多种测量模式获得的测量数据进行统一表示；S2、在单个测量模式下，对测量得到的每一片点云使用所述统一的数据结构模型表达，并进行计算和预处理；S3、对不同测量模式获得的数据进行拼接，将任意位置的两片点云对齐到统一的坐标系；S4、对拼接后的数据进行混合全局优化，得到测量结果。
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