[发明专利]一种激光测距仪校正方法有效
| 申请号： | 201610587015.1 | 申请日： | 2016-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN106154279B | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 余建伟;符运强;翁国康;胡庆武;陈小宇;毛庆洲;刘守军;陆晓明;杨晶 | 申请（专利权）人： | 武汉海达数云技术有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01S7/497 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 冯倩 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖开发区武汉大学科技园以*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种激光测距仪校正方法，该方法包括：将多个靶标依次设置在距离激光测距仪相同的预设位置处；其中，每个靶标对应的反射率均不相同；利用激光测距仪接收每个靶标反射的激光信号，并对反射的激光信号进行波形分析，得到波形分析后的幅度值和对应的测量距离值；对所有的测量距离值和所有的幅度值进行拟合的分析处理，得到对应的拟合函数关系；根据拟合函数关系对测量距离值进行校正，得到校正距离值，上述方法通过对测量距离值的拟合校正，最大限度的降低了由于反射率的不同所造成的幅相误差，从而提高了距离测量的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 测距仪 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种激光测距仪校正方法，其特征在于，包括激光测距仪和多个靶标；所述方法包括：将多个所述靶标依次设置在距离所述激光测距仪相同的预设位置处；其中，每个靶标对应的反射率均不相同；利用所述激光测距仪接收每个所述靶标反射的激光信号，并对所述反射的激光信号进行波形分析，得到波形分析后的幅度值和对应的测量距离值；对所有的所述测量距离值和所有的所述幅度值进行拟合的分析处理，得到对应的拟合函数关系；根据所述拟合函数关系对所述测量距离值进行校正，得到校正距离值。
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