[发明专利]一种折射率测量设备、折射率测量方法和装置有效
| 申请号： | 201610589278.6 | 申请日： | 2016-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN106290254B | 公开（公告）日： | 2018-10-30 |
| 发明（设计）人： | 牛亚男;彭锦涛;彭宽军 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/43 | 分类号： | G01N21/43 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及光学测量技术领域，公开了一种折射率测量设备、折射率测量方法和装置，该折射率测量设备的折射率测量范围可调，从而扩大了测量适用范围。该折射率测量设备包括产生可调节磁场的磁场发生装置，位于磁场发生装置所产生的磁场内且内部填充有磁流体的壳体，浸入磁流体内的光发射器、光接收器和被测量样品，与磁场发生装置和光接收器分别连接的控制处理器。光发射器用于朝向被测量样品发射光线，光接收器用于接收经被测量样品反射的光线，反射光线与入射光线的夹角为设定夹角；控制处理器用于判定是否发生全反射并根据发生全反射时的临界磁场强度确定磁流体折射率，及根据磁流体折射率和设定夹角确定被测量样品的折射率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 折射率 测量 设备 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种折射率测量设备，其特征在于，包括：磁场发生装置，所述磁场发生装置产生的磁场强度可调节；壳体，位于磁场发生装置所产生的磁场内且内部填充有磁流体；光发射器和光接收器，所述光发射器、光接收器和被测量样品浸入磁流体内，光发射器用于朝向被测量样品发射光线，光接收器用于接收经被测量样品反射的光线，所述反射光线与入射光线的夹角为设定夹角；控制处理器，与磁场发生装置和光接收器连接，用于接收所述光接收器的光接收量信息，当光接收量达到设定的光接收量阈值时，判定所述入射光线发生了全反射；并根据所述入射光线发生全反射时的临界磁场强度确定磁流体折射率，及根据磁流体折射率和设定夹角，确定被测量样品的折射率。
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