[发明专利]一种适用于交叉阵列的自选择阻变存储器及其读取方法有效

专利信息
申请号: 201610591550.4 申请日: 2016-07-25
公开(公告)号: CN106169534B 公开(公告)日: 2018-08-28
发明(设计)人: 蔡一茂;潘越;王宗巍;喻志臻;黄如 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;H01L27/24
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 李稚婷
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公布了一种适用于交叉阵列的自选择阻变存储器及其读取方法。本发明的自选择阻变存储器采用较薄的活性电极,具有挥发性低阻态,结合较小的限流值和特定的读写操作,在十字交叉阵列中应用可以抑制泄漏电流,实现阻变单元的无选择管高密度集成。
搜索关键词: 一种 适用于 交叉 阵列 选择 存储器 及其 读取 方法
【主权项】:
1.一种自选择阻变存储器的读写方法,所述自选择阻变存储器具有挥发性低阻态,包括底电极、顶电极和位于底电极与顶电极之间的阻变介质层,所述阻变介质层的材料为过渡金属氧化物;顶电极和底电极中一个为活性电极,另一个为惰性电极;在活性电极一侧具有电极引出层;所述活性电极的厚度在5~50nm,其材料能够吸收阻变介质层中的氧元素,使阻变介质层中形成氧空位;所述惰性电极采用惰性材料,不会吸收阻变介质层中的氧元素;其读写方法包括:1)在器件的set/forming过程中,设置限流值≤500μA,从0开始扫描电压,直到电压值足够使得器件发生set转换,器件的阻值从高阻态变为低阻态;撤去电压后,由于器件的低阻态具有挥发性,器件的阻值从低阻态转变到一个接近高阻态的阻值;2)在器件的reset过程中,从0开始反向扫描电压,在此过程中器件先发生反向set过程,其阻值重新回到低阻态,之后随着电压值的进一步增大,又发生reset过程,阻值恢复到高阻态;3)将挥发性低阻态形成的高阻态记为状态1,将器件本身的高阻态记为状态0,这两个状态用于存储,则写入1的操作与上述的set/forming过程相同,写入0的操作与上述的reset过程相同;4)在读操作中,设置读取电压Vread的大小在器件发生反向set和reset过程的电压之间,如果器件处于状态1,那么其会发生反向set;如果器件处于状态0,那么其仍会保持在该状态。
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