[发明专利]一种红外遥控器的测试方法及系统在审
| 申请号： | 201610592238.7 | 申请日： | 2016-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN106097700A | 公开（公告）日： | 2016-11-09 |
| 发明（设计）人： | 李文斌 | 申请（专利权）人： | 深圳市创荣发电子有限公司 |
| 主分类号： | G08C25/00 | 分类号： | G08C25/00;G08C23/04 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人： | 温玉珍 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华新区龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种红外遥控器的测试方法及系统，所述测试方法包括以下步骤：步骤S1，在MCU上烧录红外遥控器的测试程序；步骤S2，等待直到MCU上电后，根据测试程序直接进入测试模式，所述MCU输出测试码值；步骤S3，通过解码仪接收并判断测试码值，直到测试码值发送完毕后，通过MCU进入正常模块。本发明在红外遥控器通上电后，MCU会先自动进入预先烧录的测试程序，进而马上就会自动发射测试码值，直到测试完毕后，所述MCU控制红外遥控器进入正常模式；因此，测试工人只需要上电，然后在测试模式下观察测试数据即可，测试完毕后也无需切换红外遥控器的工作模式，这样能够大大提高生产测试效率，并降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 红外 遥控器 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种红外遥控器的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1，在MCU上烧录红外遥控器的测试程序；步骤S2，等待直到MCU上电后，根据测试程序直接进入测试模式，所述MCU输出测试码值；步骤S3，通过解码仪接收并判断测试码值，直到测试码值发送完毕后，通过MCU进入正常模块。
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