[发明专利]双异质氮化镓基场效应晶体管结构及制作方法在审
申请号: | 201610594320.3 | 申请日: | 2016-07-26 |
公开(公告)号: | CN106024881A | 公开(公告)日: | 2016-10-12 |
发明(设计)人: | 王翠梅;冯春;王晓亮;王权;肖红领;姜丽娟;殷海波 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L29/778 | 分类号: | H01L29/778;H01L21/335 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种双异质氮化镓基场效应晶体管结构,包括:一衬底;一成核层制作在衬底上面;一Fe有意掺杂铝镓氮掺杂层制作在成核层上面;一非有意掺杂高质量铝镓氮外延层制作在Fe有意掺杂铝镓氮掺杂层上面;一非有意掺杂氮化镓沟道层制作在非有意掺杂高质量铝镓氮外延层上面;一氮化铝插入层制作在非有意掺杂氮化镓沟道层上面;一非有意掺杂铝镓氮势垒层制作在氮化铝插入层上面;一非有意掺杂氮化镓盖帽层制作在非有意掺杂铝镓氮势垒层上面,本发明可以提高外延材料的晶体质量,达到高电子限阈和高晶体质量的双赢。 | ||
搜索关键词: | 双异质 氮化 场效应 晶体管 结构 制作方法 | ||
【主权项】:
一种双异质氮化镓基场效应晶体管结构,包括:一衬底;一成核层,该成核层制作在衬底上面;一Fe有意掺杂铝镓氮掺杂层,该Fe有意掺杂铝镓氮掺杂层制作在成核层上面;一非有意掺杂高质量铝镓氮外延层,该非有意掺杂高质量铝镓氮外延层制作在Fe有意掺杂铝镓氮掺杂层上面;一非有意掺杂氮化镓沟道层,该非有意氮化镓沟道层制作在非有意掺杂高质量铝镓氮外延层上面;一氮化铝插入层,该氮化插入铝层制作在非有意掺杂氮化镓沟道层上面,该氮化铝插入层的厚度为0.7nm‑5nm;一非有意掺杂铝镓氮势垒层,该非有意掺杂铝镓氮势垒层制作在氮化铝插入层上面,该非有意掺杂铝镓氮势垒层0的材料为AlzGa1‑zN,其中铝的组分z=0.10‑0.25,该非有意掺杂铝镓氮势垒层的厚度为15nm‑25nm;一非有意掺杂氮化镓盖帽层,该非有意掺杂氮化镓盖帽层制作在非有意掺杂铝镓氮势垒层上面,该非有意掺杂氮化镓盖帽层的厚度为1nm‑5nm。
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