[发明专利]基于FPGA的RAM芯片工程检测方法

摘要

本发明公开了一种基于FPGA的RAM芯片工程检测方法。在PCB调试过程中经常发现，高集成度大容量RAM存储模块的数据读写错误是由数据总线及地址总线的短路、假焊、虚焊等故障引起。当RAM直接受FPGA控制时，针对此类故障进行快速诊断及定位，通过可编程器件FPGA生成RAM的诊断例程，采用特定的测试数据对数据线和地址线进行扫描诊断，利用在线调试软件Chipscope工具进行器件功能确认和故障定位。本发明先完成数据总线的扫描诊断，再完成地址总线的扫描诊断。主要方法是针对数据总线进行特定数据测试，针对地址总线进行地址线的二分法读写测试。

主权项

基于FPGA的RAM芯片工程检测方法，能够快速诊断RAM存储模块是否存在电装故障及管脚异常并定位故障管脚，其特征在于：步骤1：完成RAM数据线的扫描诊断：在RAM芯片的固定地址写入针对数据位测试的特定数据，从而实现对RAM数据位的故障分析；步骤2：完成RAM地址线的扫描诊断：将地址线二分，即对RAM存储空间进行划分，在划分后的存储空间中写入递增的测试数据，再按照写入的地址顺序读出测试数据，读出的测试数据通过Chipscope显示，根据显示结果判断地址线是否有故障，对有故障的地址区域继续二分，直到锁定故障位置。