[发明专利]一种基于高斯扰动的重采样粒子滤波算法在审

专利信息
申请号: 201610596452.X 申请日: 2016-07-26
公开(公告)号: CN106296727A 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 周蓉;藤婧;吴梦华 申请(专利权)人: 华北电力大学
主分类号: G06T7/20 分类号: G06T7/20
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司11246 代理人: 陈波
地址: 102206 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于智能信息处理技术领域,涉及一种基于高斯扰动的重采样粒子滤波算法。具体为在重采样过程中对重复采样的高权值粒子增加高斯扰动扩散,在非线性和非高斯系统中用来估计系统状态,用于无特征的小目标跟踪定位中,解决迭代过程中重采样后粒子的多样性丧失问题,在保证粒子有效性的前提下增加粒子多样性,增加了粒子逼近目标的概率,在不增加计算量和存储量的条件下,降低了跟踪误差,提高了小目标跟踪精度;从计算量角度来看,尽管增加了基于高斯扰动的扩散过程,但是由于粒子的收敛速度加快,改进算法的执行时间和系统重采样算法接近。
搜索关键词: 一种 基于 扰动 采样 粒子 滤波 算法
【主权项】:
一种基于高斯扰动的重采样粒子滤波算法,其特征在于,所述方法的步骤为步骤1、初始化,在初始时刻k=0时,从系统状态的先验概率密度分布函数p(S0)~U(Λ)中采样得到粒子集合其中,U表示均匀分布函数,Λ表示系统状态的均匀分布区间,N为采样粒子数目,表示在k=0时刻采样得到的第i个粒子,为第i个粒子的权值,此时所有粒子重要性权值相同,均为初始化后进入粒子滤波迭代过程,令k=1;步骤2、从重要性概率密度分布函数中采样:对粒子依据系统状态模型进行预测;式中表示在k时刻采样得到的第i个粒子、p(Sk|Sk‑1)为重要性概率密度分布函数;步骤3、根据由观测模型确定的似然函数计算每个粒子权值并对权值归一化,归一化后粒子的权值为式中,Zk为观测值,为k时刻第i个粒子的权值;此时系统状态后验概率密度分布函数近似为式中Sk为待估计的k时刻的系统状态,δ为单位脉冲函数;步骤4、计算有效粒子的数目步骤5、当有效粒子数目Neff大于等于设定阈值时,输出系统状态估计值否则当有效粒子数目小于设定阈值时,进入步骤6;步骤6、启动重采样过程进行重采样,对粒子集进行重采样得到新的粒子集步骤7、比较k是否到达结束时刻T,若k<T,则k=k+1跳至步骤2;若k≥T则结束。
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