[发明专利]一种根据特征值进行色选方法在审
申请号: | 201610599432.8 | 申请日: | 2016-07-27 |
公开(公告)号: | CN106250897A | 公开(公告)日: | 2016-12-21 |
发明(设计)人: | 沈振东;纪明伟 | 申请(专利权)人: | 合肥高晶光电科技有限公司 |
主分类号: | G06K9/46 | 分类号: | G06K9/46 |
代理公司: | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙)11390 | 代理人: | 胡剑辉 |
地址: | 230000 安徽省合肥市经济技*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明提供了一种根据特征值进行色选方法,其包括以下步骤:获取目标颗粒的多个样本的图像,获取所述目标颗粒的各个颗粒的d个特征值;获取待剔除颗粒的多个样本图像,并获取所述待提出颗粒的各个颗粒的d个特征值;设定X=[x1,x2,…,xd]T为颗粒的特征值;设定状态w1事件为目标颗粒,状态w2事件为需要剔除颗粒;利用正态分布公式得到的条件概率P(ωi|X),分别获取目标颗粒的特征值X下的条件概率P(ω1|X),以及待剔除颗粒的在特征值X下的条件概率P(ω2|X);如果P(ω1|X)大于P(ω2|X),则把X归类于状态ω1,反之则把X归类于状态ω2。本发明提供通过选择颗粒的特定的几个特征值,并根据特征值对颗粒进行判断是否需要剔除,使用了正态分布概率方法,判断更为精确。 | ||
搜索关键词: | 一种 根据 特征值 进行 方法 | ||
【主权项】:
一种根据特征值进行色选方法,其特征在于,包括以下步骤:获取目标颗粒的多个样本的图像,并获取所述目标颗粒的各个颗粒的d个特征值;获取待剔除颗粒的多个样本图像,并获取所述待提出颗粒的各个颗粒的d个特征值;设定X=[x1,x2,…xd]T,其中x1,x2,....,xd分别为颗粒的特征值;设定状态w1事件为目标颗粒,状态w2事件为需要剔除颗粒,P(ω1)+P(ω2)=1,p(X|ω1)是ω2类状态下观察特征X的类条件概率密度,p(X|ω2)是ω2类状态下观察特征X的类条件概率密度;实际情况中,设各种类别的状态服从正态分布,一维正态分布,即d=1时的概率是:f(X)=12πσe-(X-μ)22σ2]]>其中,μ为正态分布的数学期望值,σ为正态分布的方差值,因此,对于符合正态分布的概率密度函数,即所求的p(X|ωi)为:p(X|ωi)=12πσie-(X-μi)22σi]]>最后,利用贝叶斯公式:P(ωi|X)=p(X|ωi)P(ωi)Σj=12p(X|ωj)P(ωj),]]>可以得到的条件概率P(ωi|X),称为该状态的后验概率,分别获取目标颗粒的特征值X下的条件概率P(ω1|X),以及待剔除颗粒的在特征值X下的条件概率P(ω2|X);获取每个颗粒图像的特征值X,如果P(ω1|X)大于P(ω2|X),则把X归类于状态ω1,反之则把X归类于状态ω2。
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