[发明专利]衬底处理装置以及半导体器件的制造方法有效
申请号: | 201610602519.6 | 申请日: | 2016-07-27 |
公开(公告)号: | CN106449469B | 公开(公告)日: | 2019-07-02 |
发明(设计)人: | 西堂周平;吉田秀成;山口天和;中田高行;谷山智志 | 申请(专利权)人: | 株式会社国际电气 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 陈伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种能够缩短处理室内的升温时间的衬底处理装置以及半导体器件的制造方法。衬底处理装置具备:处理室,其对衬底进行处理;衬底保持件,其在处理室内保持衬底;处理气体供给部,其向处理室内供给处理气体;第1加热器,其设置于处理室外,对处理室内进行加热;隔热部,其设置于衬底保持件的下方;第2加热器,其设置于隔热部内,对处理室内进行加热;以及吹扫气体供给部,其向隔热部内供给吹扫气体,对隔热部内进行吹扫。 | ||
搜索关键词: | 衬底 处理 装置 以及 半导体器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种衬底处理装置,其特征在于,具备:处理室,其形成于反应管内并对衬底进行处理,具有对所述衬底进行处理的处理区域、和位于所述处理区域的下方的隔热区域;衬底保持件,其在所述处理室内保持所述衬底;处理气体供给部,其向所述处理室内供给处理气体;第1加热器,其设置于所述处理室外,对所述处理室内进行加热;隔热部,其设置于所述衬底保持件的下方;第2加热器,其设置于所述隔热部内,对所述处理室内进行加热;以及吹扫气体供给部,其向所述隔热部内供给吹扫气体,对所述隔热部内进行吹扫,所述吹扫气体供给部构成为朝向设置有所述第2加热器的发热部的区域供给所述吹扫气体,所述反应管具有:凸缘部,其形成于所述反应管的下端;和排气口,其形成于所述凸缘部,对所述隔热区域的环境气体进行排气。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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