[发明专利]一种图像芯片的量产测试方法及装置

摘要

本发明适用于集成电路领域，提供了一种图像芯片的量产测试方法及装置，该方法包括：测试机台启动后向待测图像芯片发送测试指令；图像芯片根据测试指令施加虚拟激励；图像芯片根据测试机台的读取指令更新待测像素点；图像芯片在当前像素点通过虚拟激励生成测试图像信息；测试机台实时采集所述图像信息，并实时判断每个图像芯片生成的图像信息是否合格，并对应进行标记。本发明在封装前的晶圆阶段通过虚拟激励对图像芯片中的各功能模块进行整体地测试，测试结果准确，降低了封装成本和测试时间，并且通过带宽自动匹配实现实时检测，降低了芯片功耗和面积。

主权项

1.一种图像芯片的量产测试方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：测试机台启动后向待测图像芯片发送测试指令；所述图像芯片根据测试指令施加虚拟激励，所述虚拟激励预设于所述图像芯片中；所述图像芯片根据所述测试机台的读取指令更新待测像素点；所述图像芯片在当前像素点通过虚拟激励生成测试图像信息；测试机台实时采集所述测试图像信息，并实时判断每个图像芯片生成的测试图像信息是否合格，并对应进行标记。