[发明专利]基于纱线截面周长的纱线条干均匀度测量系统有效
申请号: | 201610606174.1 | 申请日: | 2016-07-28 |
公开(公告)号: | CN106012472B | 公开(公告)日: | 2018-06-26 |
发明(设计)人: | 赵强;李冠志;汪军;杨璇;霍书怀 | 申请(专利权)人: | 中国纺织科学研究院;东华大学 |
主分类号: | D06H3/00 | 分类号: | D06H3/00 |
代理公司: | 上海统摄知识产权代理事务所(普通合伙) 31303 | 代理人: | 辛自豪 |
地址: | 100025 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于纱线截面周长的纱线条干均匀度测量系统。本发明从纱线与织物的关系的角度去理解纱线外观条干不匀,技术上以椭圆纱线截面模型为基础,利用双轴向CCD相机获取相互垂直两个方向纱线图像,实现了一种新型的纱线条干均匀度测量系统。本发明能有效减小纱线不规则截面、纱线毛羽等对纱线外观条干测量的影响,几乎不受温湿度、大气状态等外界条件、纱线混纺状态及纱线光学性质差异等所造成的影响。本发明充分考虑了纱线截面对纱线条干的影响以及纱线到织物过程中的变形关系,有利于纱线外观条干均匀度与织物外观均匀度一致性评价,相较于现有仪器更适用于纱线外观质量客观评价及织物外观质量预测领域。 | ||
搜索关键词: | 纱线 纱线外观 纱线条干均匀度 测量系统 纱线截面 织物外观 周长 不规则截面 条干均匀度 一致性评价 变形关系 大气状态 方向纱线 光学性质 客观评价 纱线毛羽 纱线条干 外界条件 质量预测 均匀度 双轴向 椭圆 减小 测量 垂直 图像 | ||
【主权项】:
1.基于纱线截面周长的纱线条干均匀度测量系统,其特征是:纱线的截面为基于椭圆模型的纱线截面;纱线条干均匀度测量系统是在纱线条干均匀度测量装置上实现,所述纱线条干均匀度测量装置主要由筒纱、导纱器件、张力控制器、卷筒、相机a、相机b、Camera Link连接线、图像采集处理板卡和PC机组成;所述筒纱上纱线在导纱器件的导引,张力控制器和卷筒的牵引下,水平经过相机a和相机b,所述相机a和相机b同时采集纱线图像,后经CameraLink连接线传输到图像采集处理板卡上,经处理后将结果传输到PC机上进一步处理和显示;该系统测量流程如下:(1)测量两个相互垂直方向的纱线直径d′和d″ ;(2)至少旋转一周,测量纱线的最大直径dmax和最小直径dmin;计算向心率f=b/a=dmin/dmax;式中:a表示椭圆长轴长度,b表示椭圆短轴长度;(3)计算纱线截面面积Si;其中,S′为以d′为纱线直径的等效圆面积,S″为以d″为纱线直径的等效圆面积;(4)计算纱线截面周长Li;式中:e表示椭圆离心率,t表示弧度积分变量;(5)根据各纱线片段的纱线截面周长Li,计算纱线截面周长条干均匀度YPCV;式中:表示所有测试点纱线截面平均周长,n表示测试点总个数,n≥10000,Li是各纱线片段的纱线截面周长。
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