[发明专利]一种液晶面板缺陷的检测方法及装置

摘要

本发明提供一种液晶面板缺陷的检测方法及装置，涉及显示技术领域，用以在不改变缺陷参数的情况下有效的检测出液晶面板中的聚集类缺陷。本发明的方法包括：对液晶面板图像进行AOI处理；根据处理结果确定不符合缺陷参数要求的多个待处理目标；将多个待处理目标按照预定顺序进行排列，并获取排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数；将每个聚集度参数分别和预设聚集度参数进行比较，得到多个比较结果；在多个比较结果中，若连续n个比较结果均为小于预设聚集度参数且n大于或等于预设值，则将连续n个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷，其中n为自然数。本发明主要应用在液晶面板的缺陷检测技术中。

主权项

1.一种液晶面板缺陷的检测方法，其特征在于，包括：对液晶面板图像进行自动光学检测AOI处理；根据处理结果确定不符合缺陷参数要求的多个待处理目标；将所述多个待处理目标按照预定顺序进行排列，并获取排列后的多个待处理目标中相邻两个待处理目标之间的聚集度参数；其中，所述预定顺序为多个待处理目标的横坐标依次增加的顺序或者纵坐标依次增加的顺序；将每个所述聚集度参数分别和预设聚集度参数进行比较，得到多个比较结果；在所述多个比较结果中，若连续n个比较结果均为小于所述预设聚集度参数且n大于或等于预设值，则将连续n个聚集度参数所对应的待处理目标作为液晶面板的聚集类缺陷，其中n为自然数；所述聚集度参数包括：横坐标聚集度参数和纵坐标聚集度参数；所述横坐标聚集度参数指的是在横坐标方向各个待处理目标的聚集度情况，所述纵坐标聚集度参数指的是在纵坐标方向各个待处理目标的聚集度情况。