[发明专利]玉米叶片叶绿素含量及表型参数测定方法有效
申请号: | 201610611933.3 | 申请日: | 2016-07-27 |
公开(公告)号: | CN106290171B | 公开(公告)日: | 2019-01-22 |
发明(设计)人: | 张志斌;赵晨;郭栋 | 申请(专利权)人: | 内蒙古大学 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人: | 杨采良 |
地址: | 010021 内蒙古自治区呼*** | 国省代码: | 内蒙古;15 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于SVM和回归分析的玉米叶片叶绿素含量及表型参数测定方法,建立了多光谱信息与玉米叶片叶绿素含量的关系模型,对玉米叶片叶绿素含量进行了预测,计算玉米叶片叶绿素含量的分布图,并进行伪彩色处理,分别分析了叶绿素沿叶片生长长度和宽度方向上的分布规律,证明在苗期玉米叶片叶绿素含量从叶基至叶尖逐渐增大;穗期叶绿素含量在长度方向较平均;在花粒期叶绿素含量在叶片上部有一个明显的峰值,叶尖叶绿素含量较低;宽度方向上,玉米叶片叶绿素含量基本对称;对玉米叶片轮廓进行了曲线回归逼近,结果表明,玉米叶片轮廓符合二次曲线,可用二次方程表达玉米叶型。 | ||
搜索关键词: | 基于 svm 回归 分析 玉米 叶片 叶绿素 含量 表型 参数 测定 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于SVM和回归分析的玉米叶片叶绿素含量及表型参数测定方法,其特征在于,所述基于SVM和回归分析的玉米叶片叶绿素含量及表型参数测定方法利用多光谱照相机拍摄玉米叶片多光谱图像,获取玉米叶片光谱信息;用叶绿素计测量样本点叶绿素值;基于支持向量机对玉米的生长时期进行分类预测;建立分时期的光谱与叶绿素含量间关系模型,利用光谱与叶绿素含量关系模型对叶绿素含量进行预测,三个时期的预测相关系数分别为0.8224、0.7868、0.8092;计算在整片玉米叶片上叶绿素的分布情况,并寻找玉米叶片沿生长长度和宽度方向上的叶绿素分布规律;所述基于SVM和回归分析的玉米叶片叶绿素含量及表型参数测定方法包括:步骤一、利用多光谱照相机拍摄玉米叶片多光谱图像,获取玉米叶片光谱信息;用叶绿素计测量样本点叶绿素值;步骤二、基于支持向量机对玉米的生长时期进行精确分类,建立分时期的光谱与叶绿素含量间关系模型;步骤三、利用光谱与叶绿素含量关系模型对叶绿素含量进行预测,计算在整片玉米叶片上叶绿素的分布情况;步骤四、利用光谱与叶绿素含量间关系模型计算玉米叶片叶绿素含量的分布图,并对玉米叶片叶绿素含量的分布图进行伪彩色处理,分析玉米叶片沿叶片生长长度和宽度方向上的叶绿素分布规律;步骤五、对玉米叶片轮廓进行曲线拟合和叶形的数学表达。
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