[发明专利]移相器芯片射频自测试有效
| 申请号： | 201610615727.X | 申请日： | 2016-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN106452618B | 公开（公告）日： | 2019-04-16 |
| 发明（设计）人： | A·R·菲尔德曼;B·J·莫萨维尔 | 申请（专利权）人： | 谷歌有限责任公司 |
| 主分类号： | H04B17/19 | 分类号： | H04B17/19;H04B17/29 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种方法(300)包括：选择来自锁相环(260)的第一输出(262、262a)，以及向第一被测设备(214、214a)和第二被测设备(214、214b)发送来自锁相环的第一输出。该方法包括：将连接到第一被测设备的第一相位旋转器(226、226a)调整为零的第一旋转器相位值(228、228a)。该方法包括：通过调整连接到第二被测设备的第二相位旋转器(226、226b)以在一个相位范围内进行扫描，来确定连接到第二被测设备的相位检测器(250)的相位检测器值(252)的集合。该方法包括：测量相位检测器的相位检测器值，以及通过对相位检测器值的集合求平均来确定相位检测器的相位检测器增益(254)并且存储相位检测器增益。 | ||
| 搜索关键词： | 移相器 芯片 射频 测试 | ||
【主权项】：
1.一种用于操作移相器芯片射频自测试的方法(300)，包括：由控制硬件(230)选择来自锁相环(260)的第一输出(262、262a)；由所述控制硬件(230)向第一被测设备(214、214a)和第二被测设备(214、214b)发送来自所述锁相环(260)的所述第一输出(262、262a)；由所述控制硬件(230)将连接到所述第一被测设备(214、214a)的第一相位旋转器(226、226a)调整为零的第一旋转器相位值(228、228a)；由所述控制硬件(230)将调整后的第一输出(262、262a)从第一被测设备(214、214a)发送到第二被测设备(214、214b)；由所述控制硬件(230)通过以下操作来确定连接到所述第二被测设备(214、214b)的相位检测器(250)的相位检测器值(252)的集合：调整连接到所述第二被测设备(214、214b)的第二相位旋转器(226、226b)以在一个相位范围内进行扫描；以及测量所述相位检测器(250)的所述相位检测器值(252)；由所述控制硬件(230)通过对相位检测器值(252)的所述集合求平均来确定所述相位检测器(250)的相位检测器增益(254)；以及由所述控制硬件(230)将所述相位检测器增益(254)存储在存储器硬件(244)中。
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