[发明专利]基于K-WISHART分布的极化SAR舰船检测方法

摘要

本发明公开了一种基于K‑Wishart分布的极化SAR舰船检测方法，思路为：依次获取极化SAR雷达回波样本和极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C，并分别设定T为C的分类个数，依次计算T类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C中n个样本的后验概率和第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C_m，进而计算F个通道的极化SAR雷达回波样本对应的实际水平值，若所述实际水平值分别大于或等于设定的显著性水平，则C_m的分类结果正确，然后计算T类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵各自的SPAN均值，获取T个SPAN均值中的最大SPAN均值，并将所述最大SPAN均值所属类为舰船，其余T－1个类分别为海平面。

主权项

1.一种基于K‑Wishart分布的极化SAR舰船检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，获取极化SAR雷达回波样本，并根据极化SAR雷达回波样本获取极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C，并分别设定T为极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C的分类个数，设定n为极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C的样本个数，且T的初值为1；步骤2，对极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C进行分类，计算T类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C中n个样本的后验概率，其中T类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C中第j′个样本的后验概率γj′＝{γj′1，γj′2、...，γj′m，...，γj′T}，γj′m表示第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C中第j＇个样本的后验概率；如果第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C中第j′个样本的后验概率γj′m最大，则将第j′个样本归为第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵Cm中的样本；j′∈[1，n]，进而得到第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵Cm中的所有样本，m∈[1，T]；步骤3，对第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C_m进行参数估计，分别计算第m类极化SAR雷达回波样本的均值协方差矩阵∑_m、第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵的多视数估计值T类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵的全局有效多视数和第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵的形状参数估计值进而计算得到基于复K‑Wishart分布的第x个通道的第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵的概率密度函数；步骤4，根据基于复K‑Wishart分布的第x个通道的第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵的概率密度函数，对第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C_m进行适应性检测，得到F个通道的SAR雷达回波样本对应的实际水平值表示第x个通道的SAR雷达回波样本的实际显著性水平值，x∈{1，2，…，F}，F表示获取的极化SAR雷达回波样本包含的通道个数；如果所述F个通道的SAR雷达回波样本对应的实际显著性水平值分别大于或等于设定的显著性水平β，则所述第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C_m的分类结果正确，然后执行步骤5；如果所述F个通道的SAR雷达回波样本对应的实际显著性水平值中任意一个通道的SAR雷达回波的实际显著性水平值小于设定的显著性水平β，则所述第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵C_m的分类结果不正确，并令T加1，返回执行步骤2；步骤5，计算第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵Cm的对角线元素之和，并将所述第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵Cm的对角线元素之和，作为第m类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵的SPAN值；步骤6，令m加1，重复执行步骤5，直到得到第T类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵的SPAN值，然后根据此时得到的第1类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵的SPAN值到第T类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵的SPAN值，分别计算第1类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵的SPAN均值到第T类极化SAR雷达回波样本的协方差矩阵的SPAN均值，获取T个SPAN均值中的最大SPAN均值，并将所述最大SPAN均值所属类作为舰船，其余T‑1个类分别作为海平面。