[发明专利]一种基于数理统计的TIADC偏置误差校正方法

摘要

本发明公开了一种基于数理统计的TIADC偏置误差校正方法，以某个通道作为基准，对各个子ADC采样的数据进行数理统计，剔除掉由于偶然因素或者随机噪声造成的频数很低的采样点，得到各个子ADC的偏置误差，根据误差的估计值得到相应的校准值，进而完成TIADC系统的偏置误差校。为了提高校准精度，本发明采用二次校准方法，使校准结果精度更高。

主权项

1.一种基于数理统计的TIADC偏置误差校正方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)、将TIADC系统的输入设置为0，发送默认偏置调节控制字DefaultCtrWord＝512到TIADC系统的所有ADC_m；其中，m为通道索引号，m＝0,1,...,M‑1，M为TIADC系统的并行通道数；(2)、设置采样总点数为N＝2000，采集ADC_m的量化输出值i，数理统计各个采样点出现i的频数p_i，且∑p_i＝N；剔除频数低于N/k的采样点，得到各通道的输出信号偏置：其中，k为常数；(3)、以0通道为参考通道，计算ADC_m的偏置误差ΔO_m：ΔO_m＝O_m‑O₀        (2)(4)、发送校正控制字OffsetCtrWord_m到ADC_m，对TIADC系统进行第一次校正；其中，step表示子ADC的偏置校准步进；(5)、重复步骤(2)、(3)、(4)，对TIADC系统进行第二次校正；(5.1)、重新采集ADC_m的量化输出值，利用公式(1)和(2)计算出二次校正时的偏置及偏置误差O_{m_2}、ΔO_{m_2}；(5.2)、发送二次校正的校正控制字OffsetCtrWord_{m_2}到ADC_m，对TIADC系统进行第二次校正；