[发明专利]一种电子元器件表面镀膜工艺在审
申请号: | 201610617073.4 | 申请日: | 2016-08-01 |
公开(公告)号: | CN106011749A | 公开(公告)日: | 2016-10-12 |
发明(设计)人: | 罗文彬 | 申请(专利权)人: | 合肥佳瑞林电子技术有限公司 |
主分类号: | C23C14/10 | 分类号: | C23C14/10;C23C14/30;C23C14/34;C23C14/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 230000 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种电子元器件表面镀膜工艺,它包括以下步骤:调配镀膜材料铝和硅;将调配好的镀膜材料铝和硅放入真空镀膜设备真空室内的材料筐;投入待镀膜产品,关真空室大门,对真空室进行抽真空;启动真空镀膜设备真空室的半自动蒸发功能;将电压调至5.10V,进行时间为12s的预蒸发阶段;将电压调至8.85V,进行时间为10s的蒸发阶段;开真空室大门并放入空气,取出产品;该工艺可有效解决电膜层颜色偏黄的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 电子元器件 表面 镀膜 工艺 | ||
【主权项】:
一种电子元器件表面镀膜工艺,其特征在于,它包括以下步骤:1)采用电子束蒸镀、溅射镀或热气流蒸镀的方式在清洗后的产品表面形成SiO2膜层;2)调配镀膜材料铝和硅,质量配比为2:5;3)将调配好的镀膜材料铝和硅放入真空镀膜设备真空室内的材料筐;4)投入待镀膜产品,关真空室大门,对真空室进行抽真空,启动真空镀膜设备;5)取出产品采用电子束蒸镀、溅射镀或热气流蒸镀的方式在镀有SiO2膜层的产品表面形成防 污膜层;6)将产品放入真空镀膜室,启动真空室的半自动蒸发功能,;7)开真空室大门并放入空气,取出产品。
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