[发明专利]传感器装置有效
申请号: | 201610617648.2 | 申请日: | 2016-07-29 |
公开(公告)号: | CN106394669B | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 中村功一;林胜彦;小泽崇晴;仓光修司;泷雅也;坂井利光 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | B62D6/10 | 分类号: | B62D6/10;G01L5/22;B62D5/04;G06F13/00 |
代理公司: | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王萍;陈炜<国际申请>=<国际公布>=< |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本公开涉及一种传感器装置(1),其包括:一个传感器部(10)中的多个传感器元件(111,112,121,122)和输出电路(115,125);以及ECU(40)中的校正值计算器(42),所述ECU(40)从传感器部(10)获得输出信号(Sd1,Sd2)并且所述校正值计算器(42)在可计算性条件被满足时基于与检测值对应的多个信号值(D8,D9)来计算偏移校正值(A1)。ECU(40)还包括控制计算器(43),所述控制计算器(43)基于已经通过偏移校正值(A1)校正的经校正的信号值(D8,D9)来执行计算。因此,通过考虑传感器装置中使用的部件的老化和精度变化来计算出偏移校正值(A1)。以这样的方式,检测值被适当地校正以用于计算。 | ||
搜索关键词: | 偏移校 校正 校正值计算器 传感器装置 控制计算器 传感器部 传感器元件 输出电路 输出信号 计算性 检测 老化 | ||
【主权项】:
1.一种传感器装置,包括:/n传感器部(10,20),包括:/n多个传感器元件(111,112,121,122),所述传感器元件对检测对象(331)的物理量进行检测;以及/n输出电路(115,125),所述输出电路(115,125)生成并且输出输出信号,所述输出信号包括等效于来自所述多个传感器元件的检测值的传感器信号;以及/n控制器(40,45),所述控制器(40,45)从所述传感器部获得所述输出信号,/n其中,/n所述传感器部(10,20)或所述控制器(40,45)中之一包括校正值计算器(21,42),所述校正值计算器(21,42)在可计算性条件被满足时基于与所述检测值对应的多个检测值等效值来计算以下中至少之一:用于校正偏移误差的偏移校正值和用于校正增益误差的增益校正值,/n所述控制器(40,45)包括控制计算器(43),所述控制计算器(43)基于从通过所述偏移校正值和所述增益校正值中至少之一进行的所述检测值等效值的校正得到的经误差校正的值来执行计算,以及/n基于通过从两个检测值等效值中的一个检测值等效值减去所述两个检测值等效值中的另一检测值等效值得到的相减值来计算所述偏移校正值。/n
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