[发明专利]一种MMC的故障率评估方法

摘要

本发明公开了一种MMC的故障率评估方法，包括以下步骤：1）获得MMC电路的子模块和子模块组件；2）输入MMC电路及其子模块组件的工作参数，完成初始条件设定；3）根据故障模型计算子模块组件的故障率，得到子模块的故障率；4）建立MMC电路的马尔可夫模型，基于马尔可夫模型建立状态转移方程；5）求解状态转移方程，得到MMC电路的故障率随时间和模块数的变化函数，可靠性随时间和模块数的变化函数，以及平均失效时间。大幅提高子模块组件的故障率的计算可靠性，提高MMC电路的故障率的估计可靠性；通过马尔可夫模型的运用，使求解得到的MMC电路的故障率和平均寿命更准确、且随时间变化而变化，具有动态性，故障评估精度高。

主权项

1.一种MMC的故障率评估方法，其特征在于，包括以下步骤：1)获得MMC电路的子模块和子模块组件；2)输入MMC电路及其子模块组件的工作参数，完成初始条件设定；3)根据故障模型计算子模块组件的故障率，得到子模块的故障率；4)建立MMC电路的马尔可夫模型，基于马尔可夫模型建立状态转移方程；5)求解状态转移方程，得到MMC电路的故障率随时间和模块数的变化函数，可靠性随时间和模块数的变化函数，以及平均失效时间；所述步骤4)中的状态转移方程为P₀+P₁＝1；其中，λ＝6nλsm，λ为MMC电路的故障率，μ为MMC电路的返回率，P0为MMC电路处于正常工作状态的概率，P1为MMC电路的任一桥臂上的任一子模块发生故障的概率，t为时间，n为MMC电路的每一桥臂的子模块数量，λsm为子模块的故障率。