[发明专利]气固两相流颗粒团多参数同时测量方法与装置有效

专利信息
申请号: 201610621045.X 申请日: 2016-08-01
公开(公告)号: CN106290078B 公开(公告)日: 2019-12-31
发明(设计)人: 杨斌;姜勇俊;平力;王占平;于天泽;武强;郭浩然;蔡小舒 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N15/06
代理公司: 31204 上海德昭知识产权代理有限公司 代理人: 郁旦蓉
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种气固两相流颗粒团多参数同时测量方法与装置,测量装置包括包括:激光光源单元,包含偶数个用于照射检测通道内的颗粒团的激光器和用于控制激光器的激光强度的激光控制器;光电信号采集处理单元,包含与激光器数量相等的光电探测器和与光电探测器相连的光电信号采集单元以及光电信号处理单元,其中,光电探测器用于将透过检测通道的激光强度信号转换为电信号,光电信号采集单元用于将光电探测器得到的电信号转换为激光强度数字信号,光电信号处理单元用于将光电信号采集单元采集的激光强度数字信号进行处理分析得到颗粒团运动速度、高度和体积浓度。本发明的气固两相流颗粒团多参数同时测量方法与装置测量方法简单,灵敏度高。
搜索关键词: 两相 颗粒 参数 同时 测量方法 装置
【主权项】:
1.一种使用气固两相流颗粒团多参数同时测量装置,对气固两相流颗粒团多参数同时测量的方法,其特征在于:/n所述气固两相流颗粒团多参数同时测量装置用于同时测量位于检测通道内的气固两相流中颗粒团的运动速度、高度以及体积浓度,所述气固两相流颗粒团多参数同时测量装置包括:/n设置在所述检测通道一侧的激光光源单元,包含偶数个用于照射所述检测通道内的所述颗粒团的激光器和用于控制所述激光器的激光强度的激光控制器;以及/n位于所述检测通道另一侧的光电信号采集处理单元,包含与所述激光器数量相等的光电探测器和与所述光电探测器相连的光电信号采集单元以及光电信号处理单元,/n所述测量方法包括以下步骤:/n步骤一,确定两个所述激光器的上下间距H、所述激光器初始强度I
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