[发明专利]一种基于超连续谱的光纤衰减谱测量系统有效

专利信息
申请号: 201610621418.3 申请日: 2016-08-02
公开(公告)号: CN106197952B 公开(公告)日: 2018-08-10
发明(设计)人: 杨笛;童维军;茅昕;陶金金;刘晓光;李丁珂;孙程;孟悦;刘琦 申请(专利权)人: 长飞光纤光缆股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J3/28
代理公司: 武汉臻诚专利代理事务所(普通合伙) 42233 代理人: 郝新慧
地址: 430074 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于超连续谱的光纤衰减谱测量系统,该光纤衰减谱测量系统包括:超连续谱光源,用于产生波长范围在600nm~1800nm的超连续谱;色散补偿模块,用于对所述光纤衰减谱测量系统的总色散值进行预补偿,使所述光纤衰减谱测量系统的总色散值为正;光衰减模块,用于对所述超连续谱光源进行光衰减,避免在所述待测光纤中发生非线性效应;待测光纤的输出端与所述光谱测量模块的输入端相熔接,所述光谱测量模块用于测量所述待测光纤输出端的光谱;数据分析模块,用于分析、处理光谱测量模块所测得的数据。本发明采用全光纤结构,易于维护,并能一次性快速测得待测光纤在不同波长的衰减值。
搜索关键词: 一种 基于 连续谱 光纤 衰减 测量 系统
【主权项】:
1.一种基于超连续谱的光纤衰减谱测量系统,其特征在于,包括超连续谱光源、色散补偿模块、光衰减模块、光谱测量模块以及数据分析模块,其中:所述超连续谱光源,用于产生超连续谱光,所述超连续谱光源的输出端通过光纤与所述色散补偿模块的输入端相熔接;所述色散补偿模块,用于对所述光纤衰减谱测量系统的总色散值进行预补偿,使所述光纤衰减谱测量系统的总色散值为正;所述色散补偿模块的输出端通过光纤与所述光衰减模块的输入端相熔接;所述光衰减模块,用于对所述超连续谱光源进行光衰减,避免在待测光纤中发生非线性效应,所述光衰减模块输出端与所述待测光纤相熔接;所述待测光纤的输出端与所述光谱测量模块的输入端相熔接,所述光谱测量模块用于测量所述待测光纤输出端的光谱;所述数据分析模块与所述光谱测量模块的输出端相连接,用于对所述光谱测量模块测得的光谱进行分析,得到所述待测光纤的衰减谱。
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