[发明专利]用于确定测量物体的空间性质的方法和测量机有效
| 申请号： | 201610622239.1 | 申请日： | 2016-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN106403839B | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | A.戈纳迈耶;P.杰斯特;F.威杜勒 | 申请（专利权）人： | 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邱军 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种确定测量物体(14)的空间性质的方法和测量机，其均使用工件台(12)以及具有图像传感器(20)和成像光学器件(22)的摄像机(18)。成像光学器件(22)展示像差并且被配置为相对于工件台(12)对焦在多个不同的工作位置(46a，46b)上。通过使用对限定工作位置提供的第一校准值将像差最小化。确定摄像机(18)相对于相关区域(16)的第一工作距离。接下来，使用第一工作距离以及使用表现摄像机(18)的像场曲率(44)的第二校准值，对焦成像光学器件(22)，使得相关区域(16)被带到限定的工作位置。接下来，进行像记录和像评价，以确定表现相关区域(16)中的测量物体(14)的空间性质的测量值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 测量 物体 空间 性质 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定测量物体(14)的空间性质的方法，包含步骤：‑提供光学测量机(10)，其包含工件台(12)以及具有图像传感器(20)和成像光学器件(22)的摄像机(18)，其中所述成像光学器件(22)展示像差，并且配置为相对于所述工件台(12)对焦在多个不同的工作位置上，‑提供第一校准值(32)，其被选择为使得所述像差对于来自所述多个不同的工作位置的限定的工作位置(46)被最小化，‑提供表现所述摄像机(18)的像场曲率(44)的第二校准值(34)，‑在所述工件台(12)上定位所述测量物体(14)，‑在所述测量物体(14)上限定第一相关区域(16)，‑确定所述摄像机(18)至所述第一相关区域(16)的第一工作距离(24)，‑使用所述第一工作距离(24)和所述第二校准值(34)对焦所述成像光学器件(22)，使得所述第一相关区域(16)被带入所述限定的工作位置(46)，‑当所述第一相关区域(16)在限定的工作位置(46)上时，记录所述第一相关区域(16)的像(40)，以及‑基于所述像(40)并且基于所述第一校准值(32)，确定表现所述测量物体(14)在所述第一相关区域(16)中的所述空间性质的测量值。
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