[发明专利]一种光纤陀螺温度系数测试和补偿方法

摘要

本发明涉及一种光纤陀螺温度系数测试和补偿方法，其技术特点是包括步骤1、测量得到光纤陀螺温度梯度系数和光纤陀螺温度系数之和；步骤2、测量得到该温度点下的光纤陀螺温度系数；将步骤1测试得到的光纤陀螺温度梯度系数和光纤陀螺温度系数之和减去步骤2测试得到的光纤陀螺温度系数，得到精确的光纤陀螺温度梯度系数；将步骤2和步骤3测试得到的两组光纤陀螺在不同温度点下的温度系数及温度梯度系数分别进行分段建模和补偿。本发明通过两种温度环境测试分别提取光纤陀螺在每个温度点上的温度及温度梯度系数，并对两组系数曲线进行分段处理，实现光纤陀螺零偏漂移的分段温度补偿功能，适合不同型号或精度的光纤陀螺零偏漂移的补偿。

主权项

1.一种光纤陀螺温度系数测试和补偿方法，其特征在于包括以下步骤：步骤1、将光纤陀螺置于温箱内，在光纤陀螺内部温度温变速率的温度范围内，测量升温及降温条件下每个温度点的光纤陀螺输出，得到该温度点下的光纤陀螺温度梯度系数和光纤陀螺温度系数之和；其中，温度范围为：T_max+ΔT₁到T_min‑ΔT₂，T_max和T_min分别为待测温度的最高值和最低值，ΔT₁和ΔT₂的分别表示温度增加量和温度减小量，ΔT₁和ΔT₂大小选取原则是：保证光纤陀螺在温度T_max和T_min范围内的陀螺内部温变速率为步骤2、在光纤陀螺内部温度保持恒定温变速率的温度范围内，温度梯度引起的光纤陀螺零偏变化小于其精度水平忽略不计，测量对应每个温度点的光纤陀螺输出即得到该温度点下的光纤陀螺温度系数；其中温度范围为：T_max+ΔT₁到T_min‑ΔT₂，T_max和T_min分别为待测温度的最高值和最低值，ΔT₁和ΔT₂的分别表示温度增加量和温度减小量，所述温变速率的选取原则是：保证其对光纤陀螺偏置漂移的影响小于光纤陀螺自身精度水平，该温变速率的最大值按如下公式求得：式中，为光纤陀螺在温变速率条件下的最大温度梯度系数，Ω_s为光纤陀螺精度；步骤3、将步骤1测试得到的光纤陀螺温度梯度系数和光纤陀螺温度系数之和减去步骤2测试得到的光纤陀螺温度系数，得到精确的光纤陀螺温度梯度系数；步骤4、将步骤2和步骤3测试得到的两组光纤陀螺在不同温度点下的温度系数及温度梯度系数分别进行分段建模和补偿。