[发明专利]用于模型数据测试的中心晶片的挑选方法有效
| 申请号： | 201610625315.4 | 申请日： | 2016-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN106249120B | 公开（公告）日： | 2018-12-18 |
| 发明（设计）人： | 郭奥;刘林林 | 申请（专利权）人： | 上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G06F17/50 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 吴世华;陈慧弘 |
| 地址： | 201210 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于模型数据测试的中心晶片的挑选方法，包括：对每个测试器件进行Mapping数据测试得到Mapping测试数据；根据Mapping测试数据计算每个测试器件的每个测量参数相对于所有晶片的中位数值；计算所有Mapping测试数据与相对应的中位数值之间的误差数据；计算每个测试器件的每个测量参数的误差数据相对于所有晶片的统计分布值；根据所述统计分布值来确定用于挑选中心晶片的规范值；将所有Mapping测试数据的误差数据与相对应的规范值进行比较，并统计出每个晶片中满足规范值的器件、以及测量参数的总数目；挑选满足规范值的器件、以及测量参数的总数目最多的晶片作为中心晶片。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 模型 数据 测试 中心 晶片 挑选 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于模型数据测试的中心晶片的挑选方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤01：对每个测试器件进行Mapping数据测试得到Mapping测试数据；步骤02：根据Mapping测试数据计算每个测试器件的每个测量参数相对于所有晶片的中位数值；步骤03：计算所有Mapping测试数据与相对应的中位数值之间的误差数据；步骤04：计算每个测试器件的每个测量参数的误差数据相对于所有晶片的统计分布值；步骤05：根据所述统计分布值来确定用于挑选中心晶片的规范值；步骤06：将所有Mapping测试数据的误差数据与相对应的规范值进行比较，并统计出每个晶片中Mapping测试数据的误差数据小于等于规范值的器件、以及测量参数的总数目；步骤07：挑选满足规范值的器件、以及测量参数的总数目最多的晶片作为中心晶片。
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