[发明专利]采用近红外光谱直接定量测量二元混合体系的方法有效

专利信息
申请号: 201610626914.8 申请日: 2016-07-29
公开(公告)号: CN106018334B 公开(公告)日: 2018-10-19
发明(设计)人: 姚志湘;粟晖;姚桔 申请(专利权)人: 广西科技大学
主分类号: G01N21/359 分类号: G01N21/359
代理公司: 柳州市荣久专利商标事务所(普通合伙) 45113 代理人: 周小芹
地址: 545006 广西*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 一种采用近红外光谱直接定量测量二元混合体系的方法,涉及一种光学领域中二元混合体系的测量方法,它通过分别采集各组分的近红外光谱,建立移动窗口,选择组分b的近红外光谱B,将移动窗口从该近红外光谱B的左端向右移动,分别计算近红外光谱B与近红外混合光谱AB的夹角,得到系列夹角值,求取系列夹角值的方差D;分别计算近红外光谱B与组分b在不同含量下的近红外混合光谱AB的系列方差Di;绘制组分b的不同含量与系列方差Di的标准曲线,根据标准曲线,即可确定待测二元混合体系ab中组分a和组分b的配比,实现被测物的组分定量。本发明方法简单,成本较低,工作强度低,可以不用按照严格的光度值实现定量,使用方便。
搜索关键词: 采用 红外 光谱 直接 定量 测量 二元 混合 体系 方法
【主权项】:
1.一种采用近红外光谱直接定量测量二元混合体系的方法,其特征在于:该方法是通过光谱仪分别采集各组分的近红外光谱、二元混合体系ab的近红外混合光谱AB,建立移动窗口,选择组分b的近红外光谱B,在移动窗口内,将移动窗口从该近红外光谱B的左端向右移动,分别计算近红外光谱B与近红外混合光谱AB的夹角,得到系列夹角值,并求取系列夹角值的方差D;分别计算近红外光谱B与组分b在不同含量下的近红外混合光谱AB的系列方差Di;绘制组分b的不同含量与系列方差Di的标准曲线,根据标准曲线,即可确定待测二元混合体系ab中组分a和组分b的配比,实现被测物的组分定量。
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