[发明专利]半导体设备在审
申请号: | 201610629149.5 | 申请日: | 2016-08-03 |
公开(公告)号: | CN106449571A | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 陈俊良 | 申请(专利权)人: | 联发科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48;H01L23/485 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 | 代理人: | 何青瓦 |
地址: | 中国台湾新竹 市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体设备,具有小的尺寸并且能够增强电磁场。其中,该半导体设备包括:金属垫、第一金属层布线及至少一个通孔插塞。其中,该金属垫位于该半导体设备的第一金属层。其中,该第一金属层布线位于该半导体设备中的第二金属层,并且位于该金属垫的正下方。其中,该至少一个通孔插塞用于将该第一金属层布线连接至该金属垫,并且该至少一个通孔插塞位于该金属垫的正下方。 | ||
搜索关键词: | 半导体设备 | ||
【主权项】:
一种半导体设备,其特征在于,包括:金属垫,设置于该半导体设备的第一金属层;第一金属层布线,位于该半导体设备的第二金属层中,并且位于该金属垫的正下方;以及至少一个通孔插塞,用于将该第一金属层布线连接至该金属垫,其中,该至少一个通孔插塞位于该金属垫的正下方。
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