[发明专利]用于大型结构物垂直位移或变形的自校准式测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201610629370.0 申请日: 2016-08-03
公开(公告)号: CN106197288B 公开(公告)日: 2018-10-02
发明(设计)人: 高文武;徐克强;郭敏;李运输 申请(专利权)人: 西安敏文测控科技有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/16
代理公司: 西安文盛专利代理有限公司 61100 代理人: 李中群
地址: 710100 陕西省西安市航*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种用于大型结构物垂直位移或变形参数的自校准式测量装置和方法,包括数据处理中心、成像系统、基准靶标、静力水准仪和不少于一只的测量靶标,所述的静力水准仪包括若干只沉降探头和通液管,所述的沉降探头和测量靶标固定在大型结构物的侧壁或顶部,所述的基准靶标设置在其中某只沉降探头上,且基准靶标和测量靶标在成像系统的敏感元的不同位置上成像,数据处理中心获取静力水准仪和成像系统的测量结果后,根据沉降探头、基准靶标和测量靶标的测量结果,计算得到测量点的位移或变形参数,本发明克服了测量系统因成像系统受到载荷或自身安装基础变形等原因而产生的位移,最终导致系统的测量误差,提高了测量精度。
搜索关键词: 用于 大型 结构 垂直 位移 变形 校准 测量 装置 方法
【主权项】:
1.用于大型结构物垂直位移或变形的自校准式测量装置,其特征在于:包括若干个监测单元和数据处理中心(20),每个监测单元包括成像系统(12)、基准靶标(14)、静力水准仪和不少于一只的测量靶标(13),所述的静力水准仪包括通液管相联通的基准沉降探头(21)和若干只测量沉降探头(22),所述的测量沉降探头(22)和测量靶标(13)固定在大型结构物(11)的侧壁或顶部,所述的基准靶标(14)设置在对应的测量沉降探头(22)上,且基准靶标(14)和测量靶标(13)在成像系统(12)的敏感元的不同位置上成像,数据处理中心(20)获取静力水准仪和成像系统(12)的测量结果后,并对测量靶标的结果进行校准修正后,得到测量点的位移或变形参数。
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