[发明专利]内建自测系统及方法有效
| 申请号： | 201610630355.8 | 申请日： | 2016-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN106251907B | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 黄雪青 | 申请（专利权）人： | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 屈蘅;李时云 |
| 地址： | 430205 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种内建自测系统及方法，将控制器设置在测试板上，不用对待测芯片的电路进行更改，减小了因DFT而带来的额外的芯片面积；在进行内建自测时，待测芯片与测试板正常通讯，但是由于测试板上控制器的存在，测试板与测试基台的信号传输只需要少数的测试通道，从而实现最大的同测数，同时减少了测试的时间和成本，而又不需要增加芯片的面积和成本，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 自测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种内建自测系统，包括：控制器以及依次电连接的测试基台、测试板与待测芯片，其特征在于，所述控制器设置于所述测试板上，所述测试基台提供外部测试信号至所述控制器，所述控制器对所述待测芯片进行测量。
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