[发明专利]一种电脉冲刺激测试装置以及采用该装置的测试系统

摘要

本发明涉及一种电脉冲刺激测试装置，其包括：一体外测试刺激器以及一测试导线，且该体外测试刺激器包括一脉冲发生模块，所述脉冲发生模块至少可以产生变频刺激脉冲信号，该变频刺激脉冲信号包括至少两种不同频率的电刺激脉冲串交替刺激形成多个脉冲串周期，且每个频率的电刺激脉冲串在每个脉冲串周期中持续的时间为0.1秒~60分钟；所述脉冲发生器具有扫频功能，其中，所述扫频功能为单一频率扫频功能、多频率交替递进扫频功能、第一多频率交替组合扫频功能以及第二多频率交替组合扫频功能中的一种或多种。

主权项

1.一种电脉冲刺激测试装置，其包括：一体外测试刺激器以及一测试导线，且该体外测试刺激器包括一脉冲发生模块，所述脉冲发生模块至少可以产生变频刺激脉冲信号，该变频刺激脉冲信号包括至少两种不同频率的电刺激脉冲串交替刺激形成多个脉冲串周期，且每个频率的电刺激脉冲串在每个脉冲串周期中持续的时间为0.1秒～60分钟；所述脉冲发生器具有扫频功能，其特征在于，所述扫频功能为单一频率扫频功能、多频率交替递进扫频功能、第一多频率交替组合扫频功能以及第二多频率交替组合扫频功能中的一种或多种；其中，所述单一频率扫频功能为：当设定扫频范围为F1min～F1max，扫频精度为S1，扫描时间为T1，所述脉冲发生器将以F1min、F1min+S1、F1min+2S1、F1min+3S1…F1min+nS1、以及F1max分别输出一电刺激脉冲串，且每个电刺激脉冲串持续时间为T1，其中，n为自然数，且n≤(F1max‑F1min)/S1；所述多频率交替递进扫频功能为：当设定扫频范围为F2min～F2max，扫频精度为S2，扫描时间为T2，所述脉冲发生器将以F2min和F2max、F2min+S2和F2max‑S2、F2min+2S2和F2max‑2S2…以及F2min+nS2和F2max‑nS2分别交替输出两个电刺激脉冲串，且每两个电刺激脉冲串交替输出的持续时间为T2，其中，n为自然数，且n<(F2max‑F2min)/2S2；所述第一多频率交替组合扫频功能为：当设定基准频率为Fb1和Fb2，扫频范围为F3，扫频精度为S3，以及扫描时间为T3，所述脉冲发生器将分别以Fb1和Fb2、Fb1+S3和Fb2、Fb1+2S3和Fb2…Fb1+nS3和Fb2、Fb1‑S3和Fb2、Fb1‑2S3和Fb2…Fb1‑nS3和Fb2、Fb1和Fb2+S3、Fb1和Fb2+2S3…Fb1和Fb2+nS3、Fb1和Fb2‑S3、Fb1和Fb2‑2S3…Fb1和Fb2‑nS3交替输出两个电刺激脉冲串，且每两个电刺激脉冲串交替输出的持续时间为T3，其中，n为自然数，且n＝F3/S3；所述第二多频率交替组合扫频功能为：当设定基准频率为Fb1和Fb2，扫频范围为F3，扫频精度为S3，以及扫描时间为T3，所述脉冲发生器将分别以Fb1和Fb2、Fb1+S3和Fb2+S3、Fb1+2S3和Fb2+2S3…Fb1+nS3和Fb2+nS3、Fb1‑S3和Fb2‑S3、Fb1‑2S3和Fb2‑2S3…Fb1‑nS3和Fb2‑nS3、Fb1+S3和Fb2‑S3、Fb1+2S3和Fb2‑2S3…Fb1+nS3和Fb2‑nS3、Fb1‑S3和Fb2+S3、Fb1‑2S3和Fb2+2S3…Fb1‑nS3和Fb2+nS3交替输出两个电刺激脉冲串，且每两个电刺激脉冲串交替输出的持续时间为T3，其中，n为自然数，且n＝F3/S3。