[发明专利]阵列测试电路及阵列测试方法有效
| 申请号： | 201610632513.3 | 申请日： | 2016-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN106057110B | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 洪光辉;龚强 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/36 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公布了一种阵列测试电路，所述阵列测试电路包括扫描驱动、使能驱动、多个像素控制驱动、多个薄膜晶体管及多个像素电极，所述薄膜晶体管位于阵列基板的像素单元内并在液晶面板正常显示时按照系统驱动电路的控制调节像素电极的偏置电压，各所述薄膜晶体管的栅极均连接至所述使能驱动，所述使能驱动发送使能信号同时控制各所述薄膜晶体管的通断状态，各所述薄膜晶体管的漏极均连接至所述扫描驱动，每一个所述像素控制驱动的输入端均对应连接一个所述薄膜晶体管的源极，每一个所述像素控制驱动的输出端均对应连接一个所述像素电极。本发明节省显示面板边缘大量的布局空间，阵列测试时输入的信号数量少，简化了阵列测试的过程。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种阵列测试电路，其特征在于，所述阵列测试电路包括扫描驱动、使能驱动、多个像素控制驱动、多个薄膜晶体管及多个像素电极，所述薄膜晶体管位于阵列基板的像素单元内并在液晶面板正常显示时按照系统驱动电路的控制调节像素电极的偏置电压，各所述薄膜晶体管的栅极均连接至所述使能驱动，所述使能驱动发送使能信号同时控制各所述薄膜晶体管的通断状态，各所述薄膜晶体管的漏极均连接至所述扫描驱动，每一个所述像素控制驱动的输入端均对应连接一个所述薄膜晶体管的源极，每一个所述像素控制驱动的输出端均对应连接一个所述像素电极，测试状态时，所述扫描驱动发出的电压控制信号经过连通状态的各所述薄膜晶体管后到达与各所述薄膜晶体管对应连接的所述像素控制驱动，所述像素控制驱动按照电压控制信号调节与之对应连接的所述像素电极的偏置电压。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华星光电技术有限公司，未经武汉华星光电技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610632513.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
