[发明专利]化学增幅型正型抗蚀剂组合物和图案形成方法有效

专利信息
申请号: 201610632599.X 申请日: 2016-08-04
公开(公告)号: CN106444288B 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 平野祯典;浅井聪;竹村胜也 申请(专利权)人: 信越化学工业株式会社
主分类号: G03F7/039 分类号: G03F7/039;G03F7/004;G03F7/40
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 杜丽利
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明为化学增幅型正型抗蚀剂组合物和图案形成方法,本发明提供了化学增幅型正型抗蚀剂组合物,其包括(A)在酸作用下适应于变得可溶于碱性水溶液中的聚合物,(B)光致产酸剂,(C)羧酸和(D)苯并三唑化合物和/或咪唑化合物。当将所述抗蚀剂组合物以5‑250μm厚的厚膜涂布至铜基材上并以光刻法加工成图案时,可获得高分辨率且所述图案具有矩形轮廓。
搜索关键词: 化学 增幅 型正型抗蚀剂 组合 图案 形成 方法
【主权项】:
化学增幅型正型抗蚀剂组合物,其包括(A)在酸作用下适应于变得可溶于碱性水溶液中的聚合物,(B)光致产酸剂,(C)羧酸,和(D)选自(D‑1)苯并三唑化合物和(D‑2)咪唑化合物的至少一种化合物所述苯并三唑化合物(D‑1)具有通式(1)或(3):其中P为氢、羟基、经取代的或未取代的C1‑C6烷基、经取代的或未取代的苯基、具有磺酸或其衍生物的取代基基团或‑Z‑Y,其中Z为C2‑C12亚烷基、亚环烷基或亚烷基醚基团,其可以被羧基取代,Y为羟基、C1‑C6烷氧基、羧基或其中每个烷基结构部分具有C1‑C6的二烷基氨基,Q为氢、卤素、羟基、C1‑C6烷基、C1‑C6烷氧基或式(2)的有机基团:其中R0为氢或C1‑C12烷基,x为0或1,其中T为氢、羟基、经羟基取代的或未取代的C1‑C6烷基或经羟基取代的或经甲基取代的或未取代的苯基,W为氢、卤素、羟基、C1‑C6烷基或C1‑C6烷氧基,所述咪唑化合物(D‑2)具有通式(I‑1)至(I‑6)的任一个:其中R1为具有极性官能结构部分的直链、支链或环状C2‑C20烷基,所述极性官能结构部分为选自羟基、羰基、酯、醚、硫化物、碳酸酯、氰基和缩醛中的至少一个结构部分;R2、R3和R4各自独立地为氢、直链、支链或环状C1‑C10烷基、C6‑C10芳基或C7‑C10芳烷基;R5、R7、R9和R13各自独立地为直链、支链或环状C1‑C10亚烷基;R6和R8各自独立地为氢或C1‑C15烷基,其可以包含选自羟基、羰基、酯、醚、硫化物、碳酸酯、氰基和缩醛中的至少一个结构部分;R10为C1‑C15烷基,其可以包含选自羟基、羰基、酯、醚、硫化物、碳酸酯、氰基和缩醛中的至少一个结构部分;R11为(n+1)价的、直链、支链或环状C2‑C10烃基;R12各自独立地为氢或C1‑C15烷基,其可以包含选自羟基、羰基、酯、醚、硫化物、碳酸酯、氰基和缩醛中的至少一个结构部分,或两个R12基团可以键合在一起以形成环,和n为2、3、4或5。
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