[发明专利]一种OLED器件衰减分析装置及衰减分析方法

摘要

本发明公开一种OLED器件衰减分析装置及衰减分析方法，涉及显示技术领域，以判断OLED器件中发光层的发光材料是否发生本征衰减。该OLED器件衰减分析装置通过获取OLED器件老化前后，第一、二发光约束条件下OLED器件发光亮度；根据OLED器件老化前后，第一、二发光约束条件下OLED器件发光亮度的差值，构建老化前后发光亮度差值函数，并对该函数进行积分，对比老化前后积分结果，根据对比结构判断OLED器件的发光层的发光材料是否发生本征衰减。该OLED器件衰减分析方法包括上述OLED器件衰减分析装置。该OLED器件衰减分析装置用于OLED器件衰减分析。

主权项

1.一种OLED器件衰减分析装置，其特征在于，包括依次连接的差值函数构建单元、积分单元、比较单元和判定单元；所述差值函数构建单元用于根据OLED器件老化前，第一发光约束条件下OLED器件发光亮度和第二发光约束条件下OLED器件发光亮度的差值，构建老化前发光亮度差值函数f1(x)；根据OLED器件老化后，第一发光约束条件下OLED器件发光亮度和第二发光约束条件下OLED器件发光亮度的差值，构建老化后发光亮度差值函数f2(x)；其中，第一发光约束条件为单重约束环境，所述单重约束环境为可变磁场环境，第二发光约束条件为双重约束环境，所述双重约束环境包括恒定微波环境和可变磁场环境，x为磁场强度；所述积分单元用于在可变磁场环境对应的磁场强度范围内，对老化前发光亮度差值函数f1(x)进行积分，得到老化前积分结果Ena，对老化后发光亮度差值函数f2(x)进行积分，得到老化后积分结果Ea；所述比较单元用于比较与的大小关系；其中，Lna为非发光约束条件下，老化前OLED器件的发光亮度，La为非发光约束条件下，老化后OLED器件的发光亮度；所述判定单元用于根据与的大小关系比较结果，判断OLED器件的发光层的发光材料是否发生本征衰减。