[发明专利]半导体晶圆的输送方法以及半导体晶圆的输送装置在审

专利信息
申请号: 201610638448.5 申请日: 2016-08-05
公开(公告)号: CN106449496A 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 草川琢哉 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: H01L21/677 分类号: H01L21/677
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 代理人: 刘新宇
地址: 暂无信息 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供一种半导体晶圆的输送方法以及半导体晶圆的输送装置。只将收纳于收纳容器中的晶圆和层间体中的晶圆输送到下一工序。利用工件输送机构以保持搬出对象物的上表面的方式将搬出对象物从收纳容器中搬出,利用第一传感器检测搬出对象物的上表面的状态,来对搬出对象物进行识别。在将搬出对象物识别为晶圆(W)时,利用第二传感器检测该晶圆(W)的下表面的状态,来检查有无层间体(17)。在通过该检查检测出层间体(17)时,利用推压构件(104)从侧方对直径大于晶圆的直径而从晶圆(W)的外缘突出的该层间体(17)的外缘进行推压。从喷嘴(101)朝向由于推压而产生了褶皱的层间体吹送气体,来将层间体(17)从晶圆(W)分离。
搜索关键词: 半导体 输送 方法 以及 装置
【主权项】:
一种半导体晶圆的输送方法,将在收纳容器内交替重叠且作为搬出对象物的半导体晶圆和层间体从该收纳容器中取出并将每个搬出对象物输送到规定位置,该半导体晶圆的输送方法的特征在于,包括以下过程:搬出过程,利用输送机构以保持搬出对象物的上表面的方式将搬出对象物从所述收纳容器中搬出;识别过程,利用第一传感器检测所述搬出对象物的上表面的状态,来对搬出对象物进行识别;检查过程,在通过所述识别过程识别为是半导体晶圆时,利用第二传感器检测该半导体晶圆的下表面的状态,来检查有无层间体;推压过程,在通过所述检查检测出层间体时,利用推压构件从侧方对直径大于半导体晶圆的直径而从该半导体晶圆的外缘突出的该层间体的外缘进行推压;以及分离过程,从喷嘴朝向由于推压而产生了褶皱的所述层间体吹送气体,来将该层间体从半导体晶圆分离。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日东电工株式会社,未经日东电工株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610638448.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top