[发明专利]半导体元件结构在审

专利信息
申请号: 201610638845.2 申请日: 2016-08-05
公开(公告)号: CN107204368A 公开(公告)日: 2017-09-26
发明(设计)人: 卡罗斯·H·戴尔兹;尚-皮耶·柯林基;张琮永;池育德 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司72003 代理人: 李昕巍,章侃铱
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 提供了一种半导体元件结构。半导体元件结构包括具有一顶面的一基板。半导体元件结构包括位于该基板上的一第一柱状结构。该第一柱状结构包括依序堆迭在一起的一第一重度N掺杂层、一第一P掺杂层、一N掺杂层及一第一重度P掺杂层。该第一柱状结构沿一第一方向延伸远离该基板。
搜索关键词: 半导体 元件 结构
【主权项】:
一种半导体元件结构,包括:一基板,具有一顶面;及一第一柱状结构,位于该基板上,其中该第一柱状结构包括依序堆迭在一起的一第一重度N掺杂层、一第一P掺杂层、一N掺杂层及一第一重度P掺杂层,而该第一柱状结构沿一第一方向延伸远离该基板。
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