[发明专利]阵列调零激光大工作距自准直装置与方法有效
申请号: | 201610638877.2 | 申请日: | 2016-08-07 |
公开(公告)号: | CN106225727B | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
发明(设计)人: | 谭欣然;邢耀龙;赵宇航;王超;谭久彬 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26;G01C15/00 |
代理公司: | 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 | 代理人: | 张伟 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域,具体涉及阵列调零激光大工作距自准直装置与方法;该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成;该方法通过调整反射镜,使反射光束回到反馈成像系统像面中心,再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化;由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜,因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题,进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围,或在相同自准直工作范围下增加工作距离的技术优势;此外,准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计,使本发明还具有结构简单、制作成本低;在不稳定测量环境下同样能够测量;以及快速测量的技术优势。 | ||
搜索关键词: | 阵列 激光 工作 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.阵列调零激光大工作距自准直装置,其特征在于,包括光源(1)、透射式准直镜(21)、反射镜(3)、以及反馈成像系统(6),所述反射镜(3)上设置有角度调整测量装置(4);光源(1)出射的光束,经过透射式准直镜(21)准直成平行光束后,再由反射镜(3)反射,入射到被测物(5)的表面;从被测物(5)表面反射的光束,再经过反射镜(3)反射后,由反馈成像系统(6)采集成像;所述反馈成像系统(6)为以下两种形式中的一种:第一、设置在光源(1)与透射式准直镜(21)之间,包括第一反馈分光镜(61)、以及设置在透射式准直镜(21)焦面的四象限探测器(66)和多个单像素光电转换器(67),所述单像素光电转换器(67)成阵列分布,四象限探测器(66)既位于阵列中心、又位于反馈成像系统(6)光轴上;从被测物(5)表面反射的光束,再经过反射镜(3)反射后,先后经过透射式准直镜(21)透射、第一反馈分光镜(61)反射、由四象限探测器(66)或单像素光电转换器(67)采集成像;第二、设置在透射式准直镜(21)与反射镜(3)之间,包括第一反馈分光镜(61)、第一反馈物镜(63)和设置在透射式准直镜(21)焦面的四象限探测器(66)和多个单像素光电转换器(67),所述单像素光电转换器(67)成阵列分布,四象限探测器(66)既位于阵列中心、又位于反馈成像系统(6)光轴上;从被测物(5)表面反射的光束,再经过反射镜(3)反射后,先后经过第一反馈分光镜(61)反射、第一反馈物镜(63)透射、由四象限探测器(66)或单像素光电转换器(67)采集成像;所述角度调整测量装置(4)包括设置在反射镜(3)上的角度调整装置、角度偏转测量装置、以及万向轴(43),角度调整装置包括第一驱动器(411)和第二驱动器(412);第一驱动器(411)与万向轴(43)的连线垂直第二驱动器(412)与万向轴(43)的连线;角度偏转测量装置为共光路自准直仪(429);还包括波前探测系统(7)和波前补偿系统(8);所述波前探测系统(7)为以下三种情况中的一种:情况一、包括波前探测分光镜(71)和空气扰动波前探测器(72);情况二、包括波前探测分光镜(71)和反射镜形变波前探测器(73);情况三、包括波前探测分光镜(71)、空气扰动波前探测器(72)和反射镜形变波前探测器(73);所述波前探测分光镜(71)设置在反射镜(3)与被测物(5)之间,空气扰动波前探测器(72)设置在波前探测分光镜(71)的反射光路上,反射镜形变波前探测器(73)设置在反射镜(3)的二次反射光路上;所述波前补偿系统(8)包括补偿光源(81)、补偿准直镜(82)、以及透射式液晶空间光调制器(83);补偿光源(81)出射的光束,经过补偿准直镜(82)准直成平行光束后,再由透射式液晶空间光调制器(83)调制,入射到波前探测分光镜(71)上。
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