[发明专利]一种含硅废料的成分分析检测及保存方法

摘要

本发明属于材料领域，具体涉及一种含硅废料的成分分析检测及保存方法，具体包括以下步骤1】配制分析检测剂；2】在隔绝氧气的条件下采用分步剔除法检测含硅废料的成分；3】将检测成分后的含硅废料在隔绝氧气的条件下保存。本发明所提供的含硅废料的成分分析检测及保存方法可以实现生产中快速地、精确地分析检测含硅废料中的晶体硅微粉与二氧化硅微粉各自所占比例，同时可以避免晶体硅微粉与二氧化硅微粉的相互比例在存放、运输过程中发生变化的问题；进而使原本大部分将被抛弃的含硅废料变成了非常有价值的工业原料，极大的节约了电力能源和矿山资源，降低了二氧化碳的排放，有效解决了含硅废料污染环境的问题。

主权项

一种含硅废料的成分分析检测及保存方法，其特征在于：包括以下步骤：1】配制分析检测剂：准确称量盐酸、一号助剂后，与水混合并搅拌均匀得到杂质分析检测剂；准确称量盐酸、氢氟酸和一号助剂后，与水混合并搅拌均匀得到二氧化硅微粉分析检测剂；准确称量硝酸、氢氟酸和二号助剂后，与水混合并搅拌均匀得到晶体硅微粉分析检测剂；所述一号助剂由一种或多种无机盐、分散剂、活性剂构成，所述二号助剂由一种或多种无机盐构成；一号助剂中的无机盐不包括硝酸盐；2】在隔绝氧气的条件下采用分步剔除法检测含硅废料的成分：将待检测含硅废料加热至水分完全蒸发后，根据质量差值计算得到含硅废料中的水分含量W；将待检测含硅废料与杂质分析检测剂进行反应后，洗涤并烘干至恒重，根据质量差值计算得到含硅废料中的杂质含量V；将待检测含硅废料与二氧化硅微粉分析检测剂进行反应后，洗涤并烘干至恒重，根据质量差值计算得到含硅废料中的二氧化硅微粉含量T；将待检测含硅废料与晶体硅微粉分析检测剂进行反应后，洗涤并烘干至恒重，根据质量差值计算得到含硅废料中的晶体硅微粉含量Q和绿碳化硅细粉含量G；3】将检测成分后的含硅废料在隔绝氧气的条件下保存。