[发明专利]光栅刻划刀方位角的测量装置及其测量方法有效
| 申请号： | 201610647092.1 | 申请日： | 2016-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN106248046B | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | 唐玉国;糜小涛;吉日嘎兰图;冯树龙;张善文;齐向东;巴音贺希格 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李海建 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光栅刻划刀方位角的测量装置及其测量方法，其包括安装座、旋转台和观察镜，其中，安装座用于待检测刀架的安装与定位，而旋转台包括固定部和旋转部，旋转部和固定部沿周向均具有角度刻度，安装座安装在旋转部上；观察镜具有位于基准位置的定位标识，观察镜能够与旋转台相对。使用该装置时，将带有光栅刻划刀的刀架安装于定位好的安装座上，而安装座固定在旋转部上，调整旋转台的位置于基准位置，使旋转台与观察镜相对，然后转动旋转部使光栅刻划刀的刀刃与定位标识重合，此时，旋转部相对于固定部的转动角度即为光栅刻划刀的方位角。本申请中的测量装置可直接测得方位角，不需要重复操作，准确性高、效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 光栅 刻划 方位角 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种光栅刻划刀方位角的测量装置，其特征在于，包括：用于将具有光栅刻划刀的刀架定位在基准位置的安装座(7)；旋转台，所述旋转台包括固定部(21)和旋转部(22)，所述旋转部(22)和所述固定部(21)沿周向均具有角度刻度，所述安装座(7)安装在所述旋转部(22)上；观察镜(4)，所述观察镜(4)具有位于基准位置的定位标识，所述观察镜(4)能够与所述旋转台相对。
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