[发明专利]一种内嵌式触控测试电路

摘要

本发明提供一种内嵌式触控测试电路，其包括：阵列排布的触控电极，每一行有n个触控电极，每一列有m个触控电极；电容耦合模块，其与触控电极耦合连接；第一开关模块，其包括一个第一输入端、a个第一控制端和n个第一输出端；第二开关模块，其包括m个第二输入端，b个第二控制端和一个第二输出端；其中，n、m、a和b为正整数，n小于等于2^a，m小于等于2^b。本发明的内嵌式触控测试电路通过电容耦合模块触发触控电极生成触控信号，并通过第一开关模块和第二开关模块逐个采集每个触控电极生成的触控信号，将采集到的触控信号进行对比，从而完成触摸屏的出品功能测试，进而不会造成芯片和排线等物料的浪费，并且提高了生产效率。

主权项

1.一种内嵌式触控测试电路，其特征在于，包括：阵列排布的触控电极，每个所述触控电极都与相应的第一薄膜晶体管的源极连接，其中，每一行有n个所述触控电极，每一列有m个所述触控电极；电容耦合模块，其与所述触控电极耦合连接，用于触发所述触控电极生成触控信号；第一开关模块，其包括一个第一输入端、a个第一控制端和n个第一输出端，所述第一控制端与相应的第一控制信号源连接，所述第一输入端与恒压高电平源连接，所述第一输出端与相应的所述第一薄膜晶体管的栅极连接，用于受所述第一控制信号源提供的第一控制信号的控制将恒压高电平源提供的恒压高电平传输至所述第一薄膜晶体管的栅极，将其中一列所述触控电极生成的所述触控信号传输到相应的所述第一薄膜晶体管的漏极；第二开关模块，其包括m个第二输入端，b个第二控制端和一个第二输出端，所述第二输入端与相应的所述第一薄膜晶体管的漏极连接，所述第二控制端与相应的第二控制信号源连接，所述第二输出端与触控信号采集端子连接，用于受所述第二控制信号源提供的第二控制信号的控制将其中一列所述触控电极生成的所述触控信号逐个输出至触控信号采集端子上；其中，n、m、a和b为正整数，n小于等于2^a，m小于等于2^b。