[发明专利]一种分子结光学近场显微镜系统及其构造方法有效
| 申请号： | 201610648871.3 | 申请日： | 2016-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN106198489B | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 毕海 | 申请（专利权）人： | 苏州华莱德电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65;G01Q60/18 |
| 代理公司： | 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 | 代理人： | 徐萍 |
| 地址： | 215400 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的分子结光学近场显微镜系统，包括显微镜、高真空腔体、光谱分析仪、电流测试系统、高压放大器、电脑以及石英玻璃针尖，所述的显微镜分别与高真空腔体、光谱分析仪以及电脑相连接，所述的电流测试系统和高压放大器分别连接在高真空腔体和电脑之间，所述的光谱分析仪还与电脑相连接，所述的石英玻璃针尖通过支架设置在高真空腔体的顶部并位于显微镜的下方。通过上述，本发明的分子结光学近场显微镜系统及其构造方法，通过利用电子隧穿效应和近场针尖尖端增强两种技术原理构筑了新型分子结光学近场显微镜系统，成功实现了原位单分子结的电学信号及光学信号的协同测试，光学近场显微镜可以用于多种基于单分子有机光电特性器件的分析和研究。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分子 光学 近场 显微镜 系统 及其 构造 方法 | ||
【主权项】：
1.一种分子结光学近场显微镜系统，其特征在于，包括显微镜、高真空腔体、光谱分析仪、电流测试系统、高压放大器、电脑以及石英玻璃针尖，所述的显微镜分别与高真空腔体、光谱分析仪以及电脑相连接，所述的电流测试系统和高压放大器分别连接在高真空腔体和电脑之间，所述的光谱分析仪还与电脑相连接，所述的显微镜包括透镜、反射镜以及分光镜，所述的反射镜和分光镜分别设置在透镜之间，所述的反射镜和分光镜之间还设置有透镜，所述的石英玻璃针尖通过支架设置在高真空腔体的顶部并位于显微镜的下方，其中，所述的石英玻璃针尖采用三棱柱型的石英玻璃的两个侧表面及底面蒸镀20‑40纳米金薄膜制备；所述的高真空腔体包括基底和压电陶瓷，所述的基底设置在压电陶瓷的上方；所述的分子结光学近场显微镜系统还包括氦氖激光器，所述的显微镜分别通过光纤与氦氖激光器和光谱分析仪相连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州华莱德电子科技有限公司，未经苏州华莱德电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610648871.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
