[发明专利]具有选择性的蚀刻停止衬层的自对准栅极系紧接触有效

专利信息
申请号: 201610649552.4 申请日: 2016-08-10
公开(公告)号: CN106449524B 公开(公告)日: 2019-10-01
发明(设计)人: S·C·范;L·W·利布曼;谢瑞龙 申请(专利权)人: 格罗方德半导体公司
主分类号: H01L21/8238 分类号: H01L21/8238;H01L27/092
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 英属开曼群*** 国省代码: 开曼群岛;KY
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种具有选择性的蚀刻停止衬层的自对准栅极系紧接触。一种用于形成栅极系紧的方法,包括露出有源区以形成沟渠接触开口并形成沟渠接触于其中。在沟渠接触上以及相邻栅极结构的间隙壁上形成蚀刻停止层。沉积层间电介质(ILD)以填充在该蚀刻停止层之上。打开该层间电介质及在该栅极结构的一侧上的蚀刻停止层,以提供露出的蚀刻停止层部分。凹陷该栅极结构以露出栅极导体。移除该露出的蚀刻停止层部分。沉积导电材料以提供下到该栅极结构的该一侧上的沟渠接触的自对准接触,以形成下到栅极导体的栅极接触,以及在该栅极导体与该自对准接触之间形成位于有源区之上的层间电介质内的水平连接。
搜索关键词: 具有 选择性 蚀刻 停止 对准 栅极 系紧 接触
【主权项】:
1.一种用于形成栅极系紧的方法,包括:通过蚀刻栅极结构的相邻侧上的电介质材料以打开沟渠接触开口以露出有源区,并形成沟渠接触于其中;在该沟渠接触上及相邻该沟渠接触的栅极结构的间隙壁上形成蚀刻停止层;沉积层间电介质(ILD)以填充在该沟渠接触开口中的该蚀刻停止层之上以及在相邻该沟渠接触的该栅极结构之上;打开该层间电介质及在该栅极结构的一侧上的该蚀刻停止层,以提供露出的蚀刻停止层部分;凹陷该栅极结构以移除帽盖层、凹陷一个间隙壁及露出栅极导体,并且移除该露出的蚀刻停止层部分;以及沉积导电材料以提供下到该栅极结构的该一侧上的该沟渠接触的自对准接触,以形成下到该栅极导体的栅极接触,并且在该栅极导体与该自对准接触之间形成位于该有源区之上的该层间电介质内的水平连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于格罗方德半导体公司,未经格罗方德半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610649552.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top