[发明专利]用于发射断层显像定量的系统和方法有效
| 申请号： | 201610651230.3 | 申请日： | 2016-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN106466188B | 公开（公告）日： | 2020-03-17 |
| 发明（设计）人： | S·安;R·M·曼杰什瓦;F·P·霍伊肯斯菲尔德特詹森;S·G·罗斯 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 徐予红;张懿 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种方法包括使用成像扫描仪针对要成像的对象采集扫描数据。该方法还包括使用该扫描数据重建显示图像。进一步地，该方法包括确定用于生成定量图像的定量成像算法的一个或多个方面，其中该定量成像算法的一个或多个方面被选择以优化针对病变定量的定量品质因数。该方法还包括使用扫描数据和定量成像算法重建定量图像；在显示设备上显示该显示图像；确定显示图像中的感兴趣区域；针对该感兴趣区域使用定量图像的对应的感兴趣区域确定病变定量值；以及在显示设备上显示该病变定量值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 发射 断层 显像 定量 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：使用成像扫描仪针对要成像的对象采集扫描数据；通过一个或多个处理器，使用所述扫描数据重建显示图像；通过所述一个或多个处理器，确定用于生成定量图像的定量成像算法的一个或多个方面，其中所述定量成像算法的所述一个或多个方面被选择以优化针对病变定量的定量品质因数；通过所述一个或多个处理器，使用所述扫描数据和所述定量成像算法重建定量图像；在显示设备上显示所述显示图像；确定所述显示图像中的感兴趣区域；针对所述感兴趣区域使用所述定量图像的对应的感兴趣区域确定病变定量值；以及在所述显示设备上显示所述病变定量值。
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