[发明专利]一种内嵌式触控测试电路在审
| 申请号： | 201610656668.0 | 申请日： | 2016-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN106444118A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 黄耀立;贺兴龙 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1333 | 分类号： | G02F1/1333;G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 430079 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种内嵌式触控测试电路，其包括：n个控制信号源；电容耦合模块；开关模块，其包括m个输入端、n个控制端和一个输出端；其中，输入端与相应的触控电极连接，控制端与相应的控制信号源连接，输出端与触控信号采集端子连接,电容耦合模块与触控电极耦合连接，n、m为正整数，m小于等于2^n。本发明的内嵌式触控测试电路通过电容耦合模块触发触控电极生成触控信号，并通过开关模块逐个采集每个触控电极生成的触控信号，将采集到的触控信号进行对比，从而完成触摸屏的触屏功能测试，进而不会造成芯片和排线等物料的浪费，并且提高了生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内嵌式触控 测试 电路 | ||
【主权项】：
一种内嵌式触控测试电路，其特征在于，包括：n个控制信号源，用于提供控制信号；电容耦合模块，用于触发触控电极生成触控信号；开关模块，其包括m个输入端、n个控制端和一个输出端，所述开关模块用于接收m个所述触控电极上的所述触控信号，并受所述控制信号的控制将其中一个所述触控电极上的所述触控信号输出至触控信号采集端子上；其中，所述输入端与相应的所述触控电极连接，所述控制端与相应的所述控制信号源连接，所述输出端与所述触控信号采集端子连接,所述电容耦合模块与所述触控电极耦合连接，n、m为正整数，m小于等于2^n。
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