[发明专利]一种光耦电气性能检测装置

摘要

本发明实施例提供了一种光耦电气性能检测装置，属于自动化检测技术领域。该光耦电气性能检测装置包括主控模块、触发模块、显示模块和光耦测试模块，所述触发模块、显示模块和光耦测试模块连接于所述主控模块。其中，所述触发模块用于在外部操作的作用下产生触发信号并发送给所述主控模块；所述主控模块用于根据接收到的所述触发信号控制所述光耦测试模块进行测试；所述光耦测试模块用于检测被测光耦的电气性能参数，并将检测到的电气性能参数发送给所述显示模块进行显示。本发明能够实现对光耦的自动化测试，以及有效提高测试的准确性和效率。

主权项

1.一种光耦电气性能检测装置，其特征在于，所述光耦电气性能检测装置包括主控模块、触发模块、显示模块和光耦测试模块，所述触发模块、显示模块和光耦测试模块连接于所述主控模块；其中，所述触发模块用于在外部操作的作用下产生触发信号并发送给所述主控模块；所述主控模块用于根据接收到的所述触发信号控制所述光耦测试模块进行测试；所述光耦测试模块用于检测被测光耦的电气性能参数，并将检测到的电气性能参数发送给所述显示模块进行显示；其中，所述光耦测试模块包括电压正向输出电路、反向漏电流输出电路、接收电流采样电路和恒流源电路，所述电压正向输出电路、反向漏电流输出电路、接收电流采样电路和恒流源电路分别连接于所述主控模块和被测光耦；所述电气性能参数包括所述被测光耦的正向压降、饱和压降、反向电流、电流传输比和反向击穿电压；其中，所述电压正向输出电路包括场效应管Q1和场效应管Q22，所述场效应管Q1通过三极管T1与所述主控模块连接，使得所述主控模块通过控制该三极管T1的导通或截止来驱动场效应管Q1导通或截止；所述三极管T1的集电极通过电阻R11与电压源VCC连接、基极通过电阻R12连接于所述主控模块、发射极接地；所述场效应管Q1的栅极连接于所述三极管T1的集电极、源极连接于所述电压源VCC、漏极连接于所述被测光耦的第一发送端OP1；所述场效应管Q22通过三极管T21与所述主控模块连接，使得所述主控模块通过控制该三极管T21的导通或截止来驱动场效应管Q22导通或截止；所述场效应管Q22的栅极连接于所述三极管T21的集电极、源极连接于所述被测光耦的第二发送端OP2、漏极通过串联连接的电阻R25和电阻R26接地；所述三极管T21的集电极通过电阻R23连接于所述电压源VCC、基极通过电阻R24连接于所述主控模块、发射极接地；所述反向漏电流输出电路包括场效应管Q2和场效应管Q11；所述场效应管Q2通过三极管T2与所述主控模块连接，使得所述主控模块通过控制该三极管T2的导通或截止来驱动场效应管Q2导通或截止；所述三极管T2的基极通过电阻R21连接于所述主控模块、集电极通过电阻R22连接于所述电压源VCC、发射极接地；所述场效应管Q2的栅极连接于所述三极管T2的集电极、源极连接于所述电压源VCC、漏极连接于所述被测光耦的第二发送端OP2；所述场效应管Q11的栅极连接于所述主控模块、漏极连接于所述被测光耦的第一发送端OP1、源极通过串联连接的电阻R13和电阻R14接地。