[发明专利]一种基于激光共聚焦扫描的膜孔结构及孔隙率测试方法在审

专利信息
申请号: 201610662830.X 申请日: 2016-08-13
公开(公告)号: CN106353234A 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 王凯军;宫徽;张云 申请(专利权)人: 王凯军;宫徽;张云
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100084 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种基于激光共聚焦扫描(Confocal laser scanning microscopy,CLSM)的膜孔结构及孔隙率测试方法,包括样品的制备、样品的观察、数据的处理等三个步骤。传统的测试方法有扫描电镜法、透射电镜法、压汞法和氮气吸附法等,但它们各自都有诸多的缺点。例如,压汞法测试过程中所需的高压会使膜结构变形;透射电镜法和扫描电镜法样品制备耗时且对样品破坏大。本发明利用激光共聚焦扫描电镜测试膜孔结构及孔隙率,只需要用荧光染料对待测样品进行一次染色,可以在不破坏样品的情况下获得样品内部的信息,操作简便、对样品创伤小。同时,本发明测试样品时无需对其进行干燥处理,即在测试液体分离膜时,可以在接近膜使用的环境中测试样品,所得结果更加准确可靠。
搜索关键词: 一种 基于 激光 聚焦 扫描 结构 孔隙率 测试 方法
【主权项】:
一种基于激光共聚焦扫描的膜孔结构及孔隙率测试方法,其中,包括以下步骤:步骤一,样品的制备:该过程利用荧光染料配制的溶液浸泡待测样品进行染色,以使待测样品表面可以在观察过程中可以发出相应的荧光信号;其中,荧光染料包括但不限于罗丹明b;步骤二,样品的观察:利用激光共聚焦扫描显微镜进行逐层扫描以获得待测样品不同深度的光学横切面图像,并利用计算机系统重建样品的立体结构图像,以获得膜孔结构的信息;步骤三,数据的处理,利用Image J软件进行图像分析,计算膜孔隙率。
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